基于定标的非均匀校正算法(两点校正)

本文介绍了非均匀性在红外探测器中的影响及其产生原因,重点阐述了基于定标的非均匀校正原理,特别是两点校正方法。通过设定两个定标点,确定校正后的线性关系,以消除探测器响应的不一致性,提高红外成像系统的性能。
摘要由CSDN通过智能技术生成

1.非均匀性产生的机理

非均匀性是指在入射到探测器上的光强能量一致,而红外探测器各单元输出的信号不一致的现象。

原始图像和经过校正后的图像

下图为某探测器的响应特性。横坐标为光照的辐射通量,纵坐标为探测器的输出响应。

非均匀性产生的原因主要包括以下3点:1)探测器原因。因为材料和工艺的原因,红外探测器像元的响应率很难做到一致;2)光学镜头原因。镜片加工的每个瞬时视场角的透过率不一致;3)光学系统原因。比如杂散光、冷反射等会进入光路从而在图像上叠加固定图形噪声。非均匀性主要影响红外成像系统的探测灵敏度和空间分辨率,为了充分发挥红外探测器的性能,提升系统作用距离,必须对红外成像原始信号进行非均匀性校正、坏元剔除等预处理。

2.基于定标的非均匀校正原理(两点校正)

由上图探测器响应曲线可知,非均匀性在一定的响应范围内可以近似线性变化。我们可以假设每个探测器像元的响应均为线性变化,模型如下:

S_{ij}(\Phi )=R_{ij}\Phi +N_{ij}                                   公式1

其中,S_{ij}(\Phi )是第(i,j)个探测器像元校正前的原始输出信号,R_{ij}是探测器响应的增益因子,\Phi是入射到探测器像元上的光能量,N_{ij}是探测器响应的截距因子。即有两个前提条件,第一,探测器的响应在所关注的温度范围内是线性变化的,第二,探测器的响应具有时间的稳定性,并且其受随机噪声的影响较小,则非均匀性引入固定模式的乘性和加性噪声。

非均匀性校正的目的是使各像元对同样的入射光能量\Phi

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