1.非均匀性产生的机理
非均匀性是指在入射到探测器上的光强能量一致,而红外探测器各单元输出的信号不一致的现象。
下图为某探测器的响应特性。横坐标为光照的辐射通量,纵坐标为探测器的输出响应。
非均匀性产生的原因主要包括以下3点:1)探测器原因。因为材料和工艺的原因,红外探测器像元的响应率很难做到一致;2)光学镜头原因。镜片加工的每个瞬时视场角的透过率不一致;3)光学系统原因。比如杂散光、冷反射等会进入光路从而在图像上叠加固定图形噪声。非均匀性主要影响红外成像系统的探测灵敏度和空间分辨率,为了充分发挥红外探测器的性能,提升系统作用距离,必须对红外成像原始信号进行非均匀性校正、坏元剔除等预处理。
2.基于定标的非均匀校正原理(两点校正)
由上图探测器响应曲线可知,非均匀性在一定的响应范围内可以近似线性变化。我们可以假设每个探测器像元的响应均为线性变化,模型如下:
公式1
其中,是第个探测器像元校正前的原始输出信号,是探测器响应的增益因子,是入射到探测器像元上的光能量,是探测器响应的截距因子。即有两个前提条件,第一,探测器的响应在所关注的温度范围内是线性变化的,第二,探测器的响应具有时间的稳定性,并且其受随机噪声的影响较小,则非均匀性引入固定模式的乘性和加性噪声。
非均匀性校正的目的是使各像元对同样的入射光能量产