一种两点校正红外热像仪的非均匀性的模块及方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于红外热成像系统的非均匀性校正领域,特别是一种两点校正红外热像 仪的非均匀性的模块及方法。
【背景技术】
[0002] 在过去的几十年中,红外探测器件的元数不断增加,由单元发展到线列,由线列发 展到焦平面阵列(FPA)。红外焦平面阵列探测器的出现,是红外成像史上一个划时代的革 命,它大幅提高了红外成像系统的灵敏度和可靠性。作为现代红外系统和热成像系统的关 键部件,凝视型红外焦平面阵列(IRFPA)器件成本低廉,体积小,无需制冷,目前已在军事 (红外跟踪、预警、制导)、医疗、安全等方面得到广泛应用,用它构成的红外成像系统较传 统的光机扫描红外成像系统具有结构简单、工作稳定、灵敏度高、噪声等效温差(NETD)小 等优点。
[0003] 然而,受红外探测器材料和工艺方面的影响,红外焦平面阵列的非均匀性问题成 为长期以来制约其应用的根本问题。一般意义上的非均匀性是指红外焦平面阵列在同一 均匀辐射下由于探测器各像元的红外响应度不一致导致其视频输出幅度不同,造成像质降 低,又称空间噪声;更进一步意义上的非均匀性还包括由焦平面阵列所处环境的温度变化、 电荷传输效率、Ι/f噪声(电流噪声)、无效探测元(坏元)以及红外光学系统等诸多因素 所造成的成像质量的下降。这种固定的图像噪声,使红外成像系统的温度分辨率下降,图像 质量受到严重影响。因此,必须对红外焦平面阵列进行非均匀性校正。
[0004] 目前普遍采用后期算法处理来补偿空间非均匀性。总起来说,可以将这些技术分 为二大类,即基于定标和基于场景的非均匀性校正技术。最初开发使用的是基于定标的非 均匀性校正技术,其中较为成熟的方法是基于探测元的单点、两点及多点定标算法