计算机组成原理实验报告

实验二 进位控制实验

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一、实验目的

1、了解带进位控制的运算器中的进位控制电路的组成结构。
2、验证带进位控制的算术运算器功能发生器的功能。

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二、实验内容

1、理解运算器工作原理及外部特性；
2、按照实验通路图搭建实验电路；
3、给定不同运算数验证运算器的运算功能；
4、在实验一基础上增加进位控制功能，并将有无进位情况保存。

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三、实验原理

1、从核心芯片角度：将两片74LS181串联组成8位运算器，低位芯片的进位输出端CN+4与高位芯片的进位输入端CN相连，使低四位运算产生的进位送进高四位产生八位的运算结果，低位芯片的进位输入端CN与外来进位相连，高位芯片的进位输出至外部。用锁存器74LS273来实现运算数据TR1和TR2的暂存。在实验一基础上增加了锁存器（74LS74），来保存运算进位情况，同时连接到开关组单元用来清零。
2、从总线通路角度： 依据总线原理输入单元和运算输出单元分别由两个三态门74LS245控制，其控制信号分别为B_SW和B_ALU，用以防止输入数据和输出数据产生总线竞争。为了缓存两次输入的运算数，系统设计了两个暂存器TR1和TR2分别存放两个运算数，并分别由C_TR1和C_TR2控制，与T4脉冲相与使总线上的数据打入相应暂存器。同时，“输入设备单元”的8位数据开关也经过一个三态门连接到内总线上，用来给出参与运算的数据。该三态门的输出由B_SW和RD控制信号相或得出，当或的结果为低电平时数据输出至内总线上，高电平时输出高阻态。通过开关CP控制进位锁存器中的值是否参与运算。用开关组单元实现对进位锁存器的清零。

3、从运算器的功能表角度：运算器的运算控制信号S3、S2、S1、S0、M由排线引出后可以按照运算器逻辑功能图组合输入验证运算，其中S3、S2、S1、S0控制所进行的操作，M选择进行的是算术运算还是逻辑运算，CN控制进行的计算有无进位，CP控制进位锁存器中数据是否参与运算。

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四、实验步骤

1、连接实验线路，并检查其正确性；
2、先置相关的控制信号为初始态，即使运算器和输入设备的输出都为高阻态暂存器TR1和TR2的门控信号都为低电平。
3、通过“输入设备单元”的数据开关向暂存器TR1中置数。
4、通过“输入设备单元”的数据开关向暂存器TR2中置数。
5、关掉数据开关的输出三态门（B_SW=1），打开运算器的数据输出三态门（B_ALU=0）,使运算器输出至总线上。此时，改变运算器的控制信号S3、S2、S1、S0、M、CP及CN的状态，观察和记录不同的运算结果。

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五、实验小结

通过输入63H和A7H两个运算数，并选择运算器逻辑功能表中的F=A加B、F=A加B加1运算，发现其运算结果与运算逻辑功能相符，说明实验线路搭建正确，实验过程无误，符合运算器预期运算结果。