《组合逻辑电路（半加器、全加器）》数电实验报告

实验二  组合逻辑电路（半加器、全加器）

一、实验目的

    1. 掌握组合逻辑电路的功能测试。

    2. 验证半加器和全加器的逻辑功能。

3. 学会二进制数的运算规律。

二、实验准备

芯片：74LS00、74LS86

三、实验原理

芯片引脚图及真值表：

74LS00  二输入端四与非门

     

74LS86  二输入端四异或门

四、实验内容及步骤

   1. 组合逻辑电路功能测试

   （1）用2片74LS00组成图3.1所示逻辑电路。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。

图3.1

图3.1（b）

   （2）先按图3.1写出Y2的逻辑表达式并化简。

表3.1

输入			输出
A	B	C	Y1	Y2
0 0 0 1 1 1 1 0	0 0 1 1 1 0 0 1	0 1 1 1 0 0 1 0	0 0 1 1 1 1 1 1	0 1 1 0 0 0 1 1

（3）图中A、B、C接逻辑开关，Y1，Y2接二极管电平显示。

（4）按表3.1要求，改变A、B、C输入的状态，填表写出Y1，Y2的输出状态。

（5）将运算结果与实验结果进行比较。

2.用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器电路

根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y是A、B的异或，而进位Z是A、B相与，即半加器可用一个异或门和二个与非门组成一个电路。如图3.2。

图3.2

图3.2（b）

（1）在数字电路实验平台上插入异或门和与非门芯片。输入端A、B接逻辑开关k，Y，Z接发光管电平显示。

（2）按表3.2要求改变A、B状态，填表并写出y、z逻辑表达式。

表3.2

输入端	A	0	1	0	1
	B	0	0	1	1
输出端	Y	0	1	1	0
	Z	0	0	0	1

3.全加器组合电路的逻辑功能测试

（1）写出图3.3电路的Y、Z、X1.X2.X3的逻辑表达式。

（2）根据逻辑表达式列真值表。

（3）根据真值表画出逻辑函数Si、Ci的卡诺图。

图3.3

图3.3（b）

Si的卡诺图

Bi、 Ci-1 Ai	0 0	0 1	1 1	1 0
0	0	1	0	1
1	1	0	1	0

Ci的卡诺图

Bi、 Ci-1 Ai	0 0	0 1	1 1	1 0
0	0	0	1	0
1	0	1	1	1

（4）填写表3.3各点状态

表3.3

A1	B1	C1-1	Y	Z	X1	X2	X3	S1	C1
0	0	0	0	0	1	1	1	0	0
0	1	0	1	0	1	0	1	1	0
1	0	0	1	0	1	0	1	1	0
1	1	0	0	0	1	1	1	0	1
0	0	1	0	1	1	1	0	1	0
0	1	1	1	1	0	1	1	0	1
1	0	1	1	1	0	1	1	0	1
1	1	1	0	1	1	1	0	1	1

（5）按原理图选择与非门并接线进行测试，并与上表进行比较看逻辑功能是否一致。

五、实验报告

1. 整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。

答：与非门是与门和非门的结合，先进行与运算，再进行非运算。与非门是当输入端中有1个或1个以上是低电平时，输出为高电平；只有所有输入是高电平时，输出才是低电平。

2. 总结全加器卡诺图的分析方法。

答：全加器的设计中，主要过程包括：首先由逻辑要求列出真值表，其次根据真值表写出逻辑函数，最后将逻辑函数化简，并根据化简结果画出逻辑电路图。该过程步步渐进，直接明了，其中主要难点在于写出逻辑函数后所进行的逻辑函数化简，这也是数字电路设计过程的基础。

3.总结实验中出现的问题和解决的办法。

答：

（1）实验中遇到的问题及解决办法。

对实验流程不够清晰，通过多加练习得到解决;

（2）实验的心得体会。

a．掌握了组合逻辑电路功能调试的基本方法。

b．验证了半加器和全加器的逻辑功能。

c．复习二进制数的运算规律。