Arduino测量误差数据的处理——莱特、格拉布斯准则剔除异常数据

    我们在用各种测量模块或设备进行测量时，或多或少会受到各种干扰的影响，使得到的数据与真实情况有所偏差，甚至与正确的数值差之千里。通常我们采用统计学的方法来获得相对正确的值，最基本的就是用平均值方法，即将大量数据进行累加再除以数据个数而获得均值。不过这个方法的前提是大量数据，而我们用Arduino这类工控设备进行动态测量和控制时，会受到采样频率和响应时间的限制，不可能进行数万次的采样后再进行处理。

    那如果我们采样几十个数据后就马上求取均值是不是可以呢？答案是肯定的，不过不能采用简单的直接求均值方法，因为在样本数据比较少的情况下，即使只有极少量的异常数据，都会造成均值与正确值的较大偏离。例如我们有10个人，其中一个是马云，另9人年薪在15万左右，结果一求平均年薪，我们每人的年薪都被平均到10亿了。在测量中，我们也会碰到这种情况，由于外界偶发的干扰以及测量设备内部产生的电子干扰等，都会出现异常的数据。那怎么办呢？我们自然想到先将这些异常数据剔除掉，然后再求均值。这种方法的基本思想是：给定一置信概率，确定相应的置信区间，凡超过置信区间的误差就认为是粗差，应予以剔除。用于粗大误差剔除的常见方法有莱特检验法和格拉布斯检验法。

    我们先简单的了解下莱特检验法和格拉布斯检验法。首先我们假定测量获得的数据呈正态分布，通俗点讲，就是测量获得的数据基本散布在正确值（真值）的附近，越靠近中心数据个数越多。这里我们先导出一个“残差”的概念，设第i次获得的数据为Xi，它与真值的差，我们称之为“残差”，不过我们根本不知道真值是多少，因此我们就用均值Xbar来代替真值，利用残差和数据量N，我们可以用贝塞尔公式求得σ(x)，请参看下图。莱特准则就是残差|Vi|>3σ(x)时就作为粗大误差数据，予以剔除。在测量数据分布不能确定，对测量次数没有太大要求的情况下，通常取2更有适用性。看下图：

   我们再来看格拉布斯准则为：|Vi|>g(n,a)σ(x)时就作为粗差数据，格拉布斯准则中的g(n,a)是一个取决于测量次数n和置信概率a，置信概率就是测量数据落在这个区间中的概率，格拉布斯准则中最常用置信概率为95%和99%，即如果采用a=95%，意味着有95%的数据是落在可信的区间里。这里特别要注意的是，置信概率越大，则置信区间越大࿰