XPS问题收集及解答

这篇博客主要讨论了XPS(X射线光电子能谱)数据分析中的常见问题,包括XPSPEAK软件的适用性、稀土/过渡元素结合能的变化、聚合物图谱校准、俄歇谱分析、峰偏移的正常范围、NIST数据库的使用以及非线性分峰方法。文章强调了结合能的范围性和定性定量分析的重要性,并提到了数据处理的误差来源和校正方法。
摘要由CSDN通过智能技术生成

1.xpspeak适用哪一型号的仪器呢?

XPSPEAK可以处理任何XPS仪器导出的EXCEL数据,但其不带数据库和灵敏度因子,在谱峰校正、自动定性、定量分析上都有一定的局限性;建议用仪器自带的数据处理软件如AVANTAGE 和MULTIPAK;

2.稀土/过渡元素的结合能怎么变化呢?本身含有大量C-C键的聚合物怎么校准图谱呢?

稀土/过渡元素的结合能变化没有绝对的规律,谱峰结合能变化与其原子最外层电子排布有关;另谱峰里有卫星峰和多重分裂峰造成谱峰比较复杂,比较难分析;

C-C键的聚合物就是用284.8eV左右校正即可;

3.老师,请问全谱上的俄歇谱该怎么分析

全谱上俄歇谱只是辅助元素定性分析,如果要分析化学态,最好对俄歇谱峰做精细谱扫描;

4.老师能不能讲一下Cu,Cu-O的例子;

视频里有,在俄歇参数那里有讲解,主要看光电子谱峰结合能位置、卫星峰特点,和俄歇谱峰以及俄歇参数来确定铜化学态。

5.老师,峰偏移在多少范围是正常?

同种化学态的结合能不是一个精准数值,而是能量范围;所以与查询标准能量差正负0.5之内都是合理范围;当然同时要结合其他元素的谱峰和结合能一起判定;

6.刚第一张Mo5/2和3/2不同半峰宽?

视频中错误案例中是没有考虑轨道自选分裂峰,以及半峰宽设定,在标准数据处

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