XRD测试的68个问题(五)

本文介绍了XRD测试中的关键概念,如各向异性温度因子及其影响,Rietveld结构精修时温度因子的约束方法,以及如何通过FullProf软件提取结构因子。此外,讨论了数据处理、比例因子scale的设定以及如何从单晶X射线衍射数据反推粉晶衍射图。
摘要由CSDN通过智能技术生成

01.晶体的各向异性温度因子是如何定义的?

晶体中的原子普遍存在热运动,这种运动在绝对零度时也未必停止。通常所谓的原子坐标 是指它们在不断振动中的平衡位置。随着温度的升高,其振动的振幅增大。这种振动的存在增大了原子散射波的位相差,影响了原子的散射能力,即衍射强度。

在晶体中,特别是对称性低的晶体,原子各个方向的环境并不相同,因此严格的说不同方向的振幅是不等的,由此引入了各向异性温度因子。

02.在进行 Rietveld结构精修时,是否该对温度因子进行约束?如何约束以及约束范围?

由于温度因子是随着衍射角的增加而对强度的影响增大,所以,如果要精修温度因子,就 一定要收集高角度的数据。

03.如何由粉末衍射数据通过 FullProf 提取结构因子?

首先需要一个 dat 文件,第一行,2theta 起点,步长,终点,下面是每个点的强度。下面需要编写 pcr 文件,先得到六个晶胞参数,零点,还要得到 18-30 个背景点,才能开始 编写,其他参数设置可以看说明书。

如果你以前用 Fullprof精修过结构,则只需修改如下参数:Line 11-2 的 N(number of atoms in asymmetric unit)参数置为 0,相应的下面与原子有关的参数 就不要了;Line 11-2 的 JBT 参数(2,-2,3 或-3,具体看说明)。至于要输出什么样格式的结构因 子数据文件,可以通过 LINE 3 的 JFOU 参数来控制。

04.Fullprof精修时,Bis

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