在存储芯片领域,数据的安全性和可靠性是工程师们最为关注的核心问题之一。尤其是在异常掉电的情况下,如何确保数据不丢失、不损坏,成为了存储芯片设计中的一大挑战
先来说说 SD NAND,以 MKDV1GCL-ABA、MKDV8GIL-AST 这些型号为例。当出现异常掉电情况后,重新上电时,控制器会执行一个关键动作 ——rebuild,也就是扫描之前写到了哪里。打个比方,假设有一笔资料(1,2,3,4),在写入之前会先有一个映射表存入 flash,然后才开始正式写入。要是在写入 1,2 的时候突然掉电,那么在重新上电初始化时,控制器会去扫描这个映射表,从而得知这笔资料中的 3,4 还没写完。这是针对正常掉电(power off)的情况。
而当遇到电压骤降(power drop)时,情况又有所不同。在电压 VDT 解除后(电压回到 2.5V 以上),存储芯片才会继续后续动作。但由于能效的考量,控制器无法做到每次写入都读回来确认,所以无法保证 100% 资料没问题。要是出现 CRC status error,就会把这个错误信息报给 host。
再看看 eMMC,它和 SD NAND 的掉电保护底层逻辑其实是一样的。虽然两者外观、接口等可能存在差异,但在保障数据安全度过掉电危机这件事上,它们遵循着相同的 “游戏规则”。这种相似的底层逻辑,为整个存储芯片行业在数据保护方面提供了一种通用的思路和方法。
无论是 SD NAND 还是 eMMC,掉电保护机制对于数据的完整性和可靠性至关重要。在数据如洪流般增长的今天,这些看似复杂的技术细节,实则是我们数据安全的坚实后盾。