【SPEA】3030C 针床测试仪

 由SPEA出品的 3030C 针床测试仪，占地小，测试速度高，测试成本低。模块化的设计可以使3030C搭载或任意配不同型号的receiver 和测量仪器，与常规标电路板测试方案相比，3030C可以进行真正的2核并行测试，实现更高测试覆盖率。

并行测试减少测试成本

3030C最多可搭载2个独立核心，每个测设核心配有一个独立的中央处理器，本地内存和仪器仪表能够并行同时测试2块电路板。与标准的ICT测试机相比，3030C的产能高达200%以上，从而最大限度地减少了测试成本。

双核架构同时可测2块电路板

通过真正的并行双核架构，测试成本减少50%。只需要一台设备，一个操作员，一个装载装置，一个夹具和一台电脑，就可以在同时测试测试2块电路板。

更快的测试速度

相比于标准的ATE，3030C的测试速度显著提高。每个内核配有专门的CPU核心保证仪表和PC之间没有延迟。高性能继电器切换时间短。仪器仪表之间的架构，最大限度地减少仪器在测试过程中的设置时间。一个单独的测试内核可以同时执行不同的量测，进一步降低了测试时间。

高速参数化的在线电路测试

SPEA 3030C高速ICT可以在很短的时间内测量单个元器件的值。优点：减少编程时间（测试程序是自动生的），测试时间减少（ICT测试时微秒级 FCT测试是毫秒级），维修时间减少（自动识别错误信息）。

SPEA receivers的准确定位

测试机和receiver可以完美集成，两者都由SPEA设计。测试成本低，测试效率高。安全，精确的接触电路板：当配备了电机驱动之后，可以根据程序调节receiver的下压速度来适应待测品的特性。下降时保持在同一水平面，而且也可以编辑下降的高度，以便在不同UUT的测试区域执行不同的测试。系统仪表之间的无电缆连接，保证了仪表和夹具信号的完整性。3030C不需要压缩空气：可以很容易的在工厂到处移动。

Leonardo OS更快捷的快速的自动编程

• 在几分钟内自动生成测试程序
• 自动调试和自动优化
• 自动生成测试报告
• 最小的程序开发成本：自动生成制具的钻孔档和绕线档
• 自动输入和识别CAD数据
• 自动执行内置自测（BIST），为了在进行功能测试时显著的减少测试时间
• 自动管理ECO：BOM改变后，不需要重新生成和重新调试整个测试程序
• 友好直观的图形界面

边界扫描测试：测试无法直接接触的器件

边界扫描技术能够测试不能接触的网络节点。边界扫描使 SPEA 3030C ICT提高测试覆盖率，减少测试成本，减少测试时间（通过虚拟测试点代替真实的测试探针）。

FCT功能测试

3030C不仅可以对板级进行功能测试（FCT），而且可以提供集群功能测试。使用Leonardo OS软件编程很容易，可以通过微软C++，Visual Basic，LabVIEW高级语言进行编程。3030C的功能集成测试是很划算的：
• 不需要购买外部专用仪表（万用表，继电器矩阵，直流发生器等。
• 没有冗余
• 减少取放时间和操作成本（所有测试集成在一个独立的测试站。Leonardo OS操作系统能够支持大多数通信协议(USB, CAN,Lin...).

高性价比的Per-Pin 构架

通过测试程序进行3030C的通道配置。每根测试针可用于执行任何类型的测试。仪器/接口间1:1的比例保证了几个好处：更快的生成测试程序，便于ECO的管理，充分的灵活性。

多器件并行在线编程烧录

3030C可以配备一个或更多的4核OBP500模块，可以同时对多个不同类型的元件进行并行编程。OBP可以进行具体功能的编程（BIST 或 BOST），以及在集成电路测试阶段加载系统软件，因此减少了编程时间和测试成本。