如何用芯片ate测试设备测试芯片过压保护和过流保护？

　　过压保护和过流保护是指被保护的产品或电路在电压/电流超过正常运行的最大值时，使输入断开或内部电压/电流降低的一种保护方式。过压保护和过流保护是为了防止电路中电压/电流过大从而损坏产品，因此过压/过流保护电压值和电流值也是电子测试中不可或缺的一项指标。

       手动测试过压/过流保护的方法

　　对于电源芯片来说，它的过流保护和过压保护参数的测试也是芯片出厂时的必要检测指标之一。对于电源芯片的过流保护和过压保护测试来说，手动测试需要一台多通道电源、数字万用表以及电子负载三种硬件仪器即可完成，具体步骤如下：

　　1. 将芯片的VIN端和EN端分别与电源的两个通道的正级相连，负极接地

　　2. 在芯片的VOUT端连接数字万用表的正级，负极接地

　　3. 将电子负载接入芯片的VOUT端口

　　4. 硬件连接完成之后，设置数字万用表为测电压模式，量程选择自动;给电源的两个通道分别设置工作电压与电流值，打开电源通道，保证芯片正常启动

　　5. 芯片正常启动后，缓慢调整电源的输入电压，保证VIN端的电压缓慢上升，同时注意读取VOUT端数字万用表的读数

　　6. 增加VIN端的电压直至VOUT端万用表的电压读数跳变为远小于额定输出电压的电压值

　　7. 读取VIN端此时的电压值，此电压即为该芯片的过压保护的最大电压。

　　8. 关闭电源输出，改变万用表正极接线，将万用表正级接入芯片的FB端口

　　9. 负载设为CC模式，拉载芯片的额定工作电流，打开负载

　　10. 电源的两个通道分别设置为芯片的额定工作电压与电流，打开电源

　　11. 将负载拉载的电流缓慢增加，直至万用表读取的电压值跃变为远小于额定输出电压的电压值

　　12. 读取电子负载拉载的电流值，此电流值即为该芯片的过流保护的最大电流。

　　手动测试整个测试过程至少需要10-15分钟，因为涉及到电源电压和负载电流缓慢增加这一步骤，这个步骤会耗费大量的时间。由此可见手动测试需要大量的人手和时间，且测试效率较为低下。

       芯片ate测试设备对过压/过流保护的测试步骤

　　与手动测试相比，使用芯片ate测试设备测试过压保护和过流保护多出一个硬件仪器，即纳米BOX，也叫边缘计算设备，我们的软件运行和数据计算都会在这个设备中进行，具体的测试步骤如下：

　　1. 同样我们先需要将仪器和芯片的接线连接好

　　2. 将使用到的硬件仪器通过USB/LAN/RS232等方式连接到BOX上，之后通过网线和计算机连接

　　3. 在计算机上打开浏览器，进入ATECLOUD的网站并登陆

　　4. 在ATECLOUD平台上根据手动操作的步骤搭建一套测试过压/过流保护的方案

　　5. 直接点击运行方案，等待测试完成后，在记录报告中查看测试的数据并导出测试报告。

　　6. 在数据洞察界面查看所有测试数据的分析报告，图形展示等

　　系统自动测试的过程相比于手动测试要简单许多，软件会自动将对电源的VIN端电压和负载VOUT端的电流进行递增，参数改变和配置以及仪器的操作也是由软件自动完成，因此使用ATECLOUD-IC芯片测试系统进行测试只需要1-2分钟即可完成，整个测试时间相比手动测试要块5-10倍有余。而且该系统也会将测试数据进行智能分析，以图表形式展现数据情况，同时用户也可以自定义数据报告，选择自己需要的样式进行导出。具体详情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html