概述
本章STM32CUBEMX配置STM32F103,并且在GD32F303中进行开发,同时通过GD32303C_START开发板内进行验证。需要GD样片的可以加Q_QUN申请:615061293。
本章主要配置,双ADC轮询模式扫描多个通道,通过串口进行打印。
查阅手册可以得知,PA9、PA10为串口0的输出和输入口。
视频教学
https://www.bilibili.com/video/BV1iG411H7ye/
STM32CUBEMX开发GD32F303(10)----双ADC轮询模式扫描多个通道
样品申请
https://www.wjx.top/vm/mB2IKus.aspx
csdn课程
课程更加详细。
https://download.csdn.net/course/detail/37152
ADC通道配置
ADC1 | IN0(PA0) | IN3(PA3) | IN4(PA4) |
---|---|---|---|
ADC2 | IN7(PA7) | IN8(PB0) | IN9(PB1) |
生成例程
这里准备了GD32303C_START开发板进行验证。
STM32CUBEMX配置
勾选中断。
ADC1配置。
- ADCs_Common_Settings:
- Mode:Independent mod 独立 ADC 模式,当使用一个 ADC 时是独立模式,使用两个 ADC 时是双模式,在双模式下还有很多细分模式可选,具体配置 ADC_CR1:DUALMOD 位。
- ADC_Settings:
- Data Alignment:
- Right alignment 转换结果数据右对齐,一般我们选择右对齐模式。
- Left alignment 转换结果数据左对齐。
- Scan Conversion Mode:
- Disabled 禁止扫描模式。如果是单通道 AD 转换使用 DISABLE。
- Enabled 开启扫描模式。如果是多通道 AD 转换使用 ENABLE。
- Continuous Conversion Mode:
- Disabled 单次转换。转换一次后停止需要手动控制才重新启动转换。
- Enabled 自动连续转换。
- DiscontinuousConvMode:
- Disabled 禁止间断模式。这个在需要考虑功耗问题的产品中很有必要,也就是在某个事件触发下,开启转换。
- Enabled 开启间断模式。
- Data Alignment:
- ADC_Regular_ConversionMode:
- Enable Regular Conversions 是否使能规则转换。
- Number Of Conversion ADC转换通道数目,有几个写几个就行。
- External Trigger Conversion Source 外部触发选择。这个有多个选择,一般采用软件触发方式。
- Rank:
- Channel ADC转换通道
- Sampling Time 采样周期选择,采样周期越短,ADC 转换数据输出周期就越短但数据精度也越低,采样周期越长,ADC 转换数据输出周期就越长同时数据精度越高。
- ADC_Injected_ConversionMode:
- Enable Injected Conversions 是否使能注入转换。注入通道只有在规则通道存在时才会出现。
- WatchDog:
- Enable Analog WatchDog Mode 是否使能模拟看门狗中断。当被 ADC 转换的模拟电压低于低阈值或者高于高阈值时,就会产生中断。
ADC2配置。
生成独立的文件。
keil配置
microlib 进行了高度优化以使代码变得很小。 它的功能比缺省 C 库少,并且根本不具备某些 ISO C 特性。 某些库函数的运行速度也比较慢,如果要使用printf(),必须开启。
最后
以上的代码会在Q_qun里分享。Q_qun:615061293。
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代码
在main.c中,添加头文件,若不添加会出现 identifier “FILE” is undefined报错。
/* USER CODE BEGIN Includes */
#include "stdio.h"
/* USER CODE END Includes */
函数声明和串口重定向:
/* USER CODE BEGIN PFP */
int fputc(int ch, FILE *f){
HAL_UART_Transmit(&huart1 , (uint8_t *)&ch, 1, 0xFFFF);
return ch;
}
/* USER CODE END PFP */
定义变量,存放采集到的数据。
/* USER CODE BEGIN 0 */
uint8_t i;
uint16_t adc1Buf[3];//ADC1数组
uint16_t adc2Buf[3];//ADC2数组
/* USER CODE END 0 */
ADC校准。
/* USER CODE BEGIN 2 */
HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1); //ADC校准
HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc2); //ADC校准
printf("ADC Demo!\r\n");
/* USER CODE END 2 */
采集数据。
/* USER CODE BEGIN WHILE */
while (1)
{
/* USER CODE END WHILE */
/* USER CODE BEGIN 3 */
i=0;
while(i<3)
{
HAL_ADC_Start(&hadc1);//启动ADC
HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,0xffff);//表示等待转换完成,第二个参数表示超时时间,单位ms.
//HAL_ADC_GetState(&hadc1)为换取ADC状态,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位,转换数据可用。
if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(&hadc1),HAL_ADC_STATE_REG_EOC))//就是判断转换完成标志位是否设置,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位,转换数据可用
{
//读取ADC转换数据,数据为12位。查看数据手册可知,寄存器为16位存储转换数据,数据右对齐,则转换的数据范围为0~2^12-1,即0~4095.
adc1Buf[i]=HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
i++;
}
}
printf("\nadc1_IN0(PA0)=%4.0d,电压=%1.4f",adc1Buf[0],adc1Buf[0]*3.3f/4095);
printf("\nadc1_IN3(PA3)=%4.0d,电压=%1.4f",adc1Buf[1],adc1Buf[1]*3.3f/4095);
printf("\nadc1_IN4(PA4)=%4.0d,电压=%1.4f",adc1Buf[2],adc1Buf[2]*3.3f/4095);
HAL_ADC_Stop(&hadc1);
HAL_Delay(500);
i=0;
while(i<3)
{
HAL_ADC_Start(&hadc2);//启动ADC
HAL_ADC_PollForConversion(&hadc2,0xffff);//表示等待转换完成,第二个参数表示超时时间,单位ms.
//HAL_ADC_GetState(&hadc1)为换取ADC状态,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位,转换数据可用。
if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(&hadc2),HAL_ADC_STATE_REG_EOC))//就是判断转换完成标志位是否设置,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位,转换数据可用
{
//读取ADC转换数据,数据为12位。查看数据手册可知,寄存器为16位存储转换数据,数据右对齐,则转换的数据范围为0~2^12-1,即0~4095.
adc2Buf[i]=HAL_ADC_GetValue(&hadc2);
i++;
}
}
printf("\nadc2_IN7(PA7)=%4.0d,电压=%1.4f",adc2Buf[0],adc2Buf[0]*3.3f/4095);
printf("\nadc2_IN8(PB0)=%4.0d,电压=%1.4f",adc2Buf[1],adc2Buf[1]*3.3f/4095);
printf("\nadc2_IN9(PB1)=%4.0d,电压=%1.4f",adc2Buf[2],adc2Buf[2]*3.3f/4095);
HAL_ADC_Stop(&hadc2);
HAL_Delay(500);
}
/* USER CODE END 3 */
测试结果
输入固定电压进行测试。
ADC1 | IN0(PA0) | IN3(PA3) | IN4(PA4) |
---|---|---|---|
输入电压 | VCC | 2.0V | GND |
ADC2 | IN7(PA7) | IN8(PB0) | IN9(PB1) |
输入电压 | VCC | GND | 2.0V |
测试结果如下。