美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪中标上海交通大学

最新推荐文章于 2022-09-21 16:19:28 发布
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美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪在2013年4月9日成功中标上海交通大学的项目，战胜了其他美国和日本厂家的产品。这款测试仪因其优越的性能指标受到青睐，适用于半导体行业，尤其在服务知名半导体工业用户中表现出色。
摘要由CSDN通过智能技术生成

美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪中标上海交通大学 

2013年4月9号由我公司推荐的美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪产品 在于其他美国,日本厂家的仪器进行比较之后，认为美国CDE的性能指标优越,最终中标上海交通大学项目。

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