K-Space 庆祝成立 30 周年

 

薄膜计量公司从大学衍生出来现在在全球拥有数千名客户

K-Space Associates 庆祝 30 年来帮助世界领先的技术制造商在薄膜、半导体、太阳能和玻璃市场开发、监控、控制和制造他们的产品，仅举几例。

K-Space Associates 的首席执行官 Darryl Barlett 说：“30 年后，走进实验室或制造工厂，看到我们的计量工具被实时用于过程监控和控制，仍然如此令人满意。”

K-Space 的薄膜计量应用采用专利方法来准确测量和监测晶圆温度、应力、曲率、弯曲度、沉积速率、反射率、光谱反射率和透射率以及反射高能电子衍射 (RHEED)。

在工业计量方面，K-Space 这些工具被用于全球生产设施，以测量精确的零件特征、表面缺陷等，以确保高产量和质量合规。

K-Space 在欧洲、印度、中国、日本、韩国和世界各地都有经销商。 K-Space 继续开发新的解决方案，帮助客户满足他们最复杂的计量需求。 “你永远不能停止创新！”巴利特说。

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