半导体测试基础 - 功能测试

功能测试（Functional Test）主要是验证逻辑功能，是运用测试矢量和测试命令来进行的一种测试，相比于纯 DC 测试而言，组合步骤相对复杂且耦合度高。

在功能测试阶段时，测试系统会以周期为单位，将测试矢量输入 DUT，提供预测的结果并与输出的数据相比较，如果实际的结果与测试矢量预测值不相符，则认为不通过。

基本概念

测试矢量（Test Vectors）

测试矢量也称测试模式（Test Pattern），可以理解为器件被设计逻辑功能的输入输出真值表。Test Vectors 强调时序，一般是一系列输入输出的组合。一般用 0/1 表示输入低 / 高电平，用 L/H/Z 表示输出低电平 / 高电平 / 高阻态，用 X 表示既无输入也无输出。

总功能测试

各种参数的功能测试法

OS 测试 - 功能测试法

开短路不属于功能，但也可以用功能测试的方法进行测试，关闭 PMU 和 Driver，用 Current Load 和 Voltage Receiver 进行测试。测试示意图如下：