半导体测试基础 - AC 参数测试

本文介绍了半导体AC测试中的基本AC参数,包括建立时间、保持时间、传播时延、最小脉宽、最大频率、输出使能时间和输出失能时间,并详细阐述了这些参数对于确保设备时序特性的意义。同时,讨论了时序参数,如读取周期和写入周期时序在静态RAM中的应用。
摘要由CSDN通过智能技术生成

AC 测试确保 DUT 的时特性序满足其规格需求。

基本 AC 参数

建立时间(Setup Time)

建立时间指的是在参考信号(图中为 WE)发生变化(取中间值 1.5V)前,为了确保能被正确读取,数据(图中为 DATA IN)必须提前保持稳定不变的最短时间。在最小建立时间之前,数据可以随意变化,但如果超过了最小建立时间(保持稳定得太晚),就有可能无法被识别,导致错误。在规格书中的表示如下:

Parameter Description Min Max Unit
tSD Data Set-Up to Write End 11 ns

保持时间(Hold Time)

保持时间指的是参考信号(图中为 WE)发生变化(到达一定电压阈值)后,为了确保无误,数据(图中为 DATA IN)必须保持稳定持续的最短时间(或者说在时钟信号触发前多久要保持稳定电平)。如果保持时间太短,数据有概率不能被正确识别。在规格书中的表示如下:

Parameter Description Min Max Unit
tHD Data Hold from Write End 1</
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