可控硅阻断特性测试仪

一、概述
EN-DBC-028-501型阻断特性测试仪是可用于测量晶闸管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM以及二极管的VRRM、IRRM参数以及其它半导体器件的相关参数测试的专业设备。它的测试方法符合GB/JB/T7626-94标准。
该测试台具有漏电流自动保护功能，过电压自动保护功能。阻断电压和漏电流均采用数字表显示，读数准确、直观。
二、技术指标
1 输出峰值电压：0.20-5.00KV±3%，10V；
2 输出峰值漏电流：
低档0.1-10 mA ，分辨率：0.01mA 精度3%±0.1mA
高档1-100mA 分辨率：0.1mA 精度 3%±1mA
3. 保护电流：0.2-100mA ±5%.
4. 输出测试频率： 50HZ或5HZ 切换方式:手动
5. 连接示波器接口： V （1000:1）（电压），电流 I
6. 可切换正反向测试
7. 电压调节方式：手动
8. 漏电流量程换挡：手动：低挡0.1-10mA、高档1-100mA
9. 保护漏电流设定方式：手动
10.测试方式：单次测量
三、使用环境：
1.环境温度：5—35℃
2 相对湿度：20%-70%
3.大气压力：86Kpa —106Kpa
4.电网电压：单相220V±10%无严重谐波
5 电网频率：50Hz±1Hz
四、功能介绍：
本测试台主要用于二极管、晶闸管伏安特性的测试。

五、面板说明