BASIC-23 芯片测试

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问题描述

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

Code

Java源代码：

我的思路是：分别对二维数组的下标记数，如果大于输入的n，表示芯片是好的，否则是坏的。

import java.util.Scanner;

/*
 * 思想:题目中好的芯片多余坏的芯片所以好芯片的两倍大于芯片总数n;
 * b数组表示与下标一致的芯片编号测试为1(好)的个数;
 * */
public class Main {
	public static void main(String[] args) {
		Scanner scanner = new Scanner(System.in);
		int n;
		n = scanner.nextInt();
		int[][] a = new int[n + 1][n + 1];
		int[] b = new int[n + 1]; // b数组下标号代表芯片号,下标号对应的数组值代表测试该芯片号的好(1)、坏(0)
		for (int i = 1; i <= n; i++) {
			for (int j = 1; j <= n; j++) {
				a[i][j] = scanner.nextInt();
				if (a[i][j] == 1) {
					b[j]++; // 表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,
				}
			}
		}
		for (int j = 1; j <= n; j++) {
			if (2 * b[j] > n && j == 1) { // j等于1说明是第一个好芯片,与下一个好芯片之间用空格隔开,因为已知好芯片比坏芯片多,所以测试结果为1(好)的芯片的数值的2倍应大于芯片总数n
				System.out.print(j);
			} else if (2 * b[j] > n && j != 1) {
				System.out.print(" " + j);
			}
		}
	}
}