IC测试-测试项说明

开短路测试（Open-Short Test）：

       Open-Short Test 也称为 ContinuityTest 或 Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信 号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引 脚、电源或地发生短路。

OS：其量测的实质就是量测该引脚对地的二极管与该引脚对电源的二极管

 OS对地的量测示意图

 OS对电源的量测示意图

数字测试：

          数字信号：自变量有限，因变量也离散的信号；

          数字测试强调判断，通常表现为0与1的关系

模拟测试：

          模拟信号：信号连续

          模拟测试强调运放，功率，功耗和电阻等

DC测试：

       许多 DC 测试或验证都是通过驱动电流测量电压或者驱动电压测量电流实现的，其实质是测量电路中硅介质的等效电阻值。

测量方法：

       给电压测电流，给电流测电压

AC测试：

        通俗来说是测时序及跑测试Pattern，