半导体FT测试二：OS（continue）测试（IO PIN和POWER PIN）

首先为什么要进行OS测试？

答：OS测试也叫open 和short 测试

再问和谁open有和谁short呢？

答：FT 芯片 待测 PIN 和内部逻辑open ,造成这种问题出现环节为CP封装成FT（我们可在PCB板子上使用的IC）造成。short 为 PIN TO PIN 的short，问题出现点同上

那麽我们应该怎么测试OS呢？

首先了解我们测试的目标是什么，这样才能寻找测试方法。如下图所示

其中外界资源也就是半导体测试所说的PMU或者DPS，IC锡球为 Bond Pad

注意：接下来提到电流的方向从输出测试设备为正，输入测试设备为负。即输入待测物为正，输               出待测物为负

明确待测物接下来就是测试方法了

1. 普通IO PIN 的OS测试

       普通IO 通常上管下管都存在，但是有少部分没有上管

上管测试如下图所示

测试步骤：

1.  VDD force 0V 或者电源接地。如果使用万用表寻找上管存在则二极管档位黑表笔接VDD。
2. 外部电源设置clamp电压、 Force 100uA 电流到芯片测试PIN。如果使用万用表寻找上管存在则二极管档位红表笔接测试PIN。
3. 测量测试PIN到VDD的压降。读数为０.３－０.７V为正常，０V则上管与VDD　short，如果读数为clamp电压／万用表显示OL则为开路，此时要换芯片检查二极管是否真的存在。

说明：这里的100uA电流是业界测试保护二极管常用数值。不排除还有其他方法测试二极管，如FVMV

下管测试

下管测试相对简单

1. 外部电源 设置clamp电压、 Force -100uA 电流到芯片测试PIN。如果使用万用表寻找下管存在则二极管档位红表笔接GND。
2. 如果使用万用表寻找下管存在则二极管档位黑表笔  待测PIN。
3. 测量测试PIN到GND的压降。读数为-０.３——   -０.７V为正常，０V则上管与GND　short，如果读数为clamp电压／万用表显示OL则为开路，此时要换芯片检查二极管是否真的存在。

2. Power PIN的 OS 测试

       电源PIN 则只有下管

测试方法      也可使用FVMV测试方式（Force 负压）

1. 其他IO PIN置0V，如果使用万用表量则其他角浮接即可。
2. 外部电源设置clamp电压、  Force -100uA 电流到芯片测试PIN。如果使用万用表寻找下管存在则二极管档位红表笔接GND
3. 如果使用万用表寻找下管存在则二极管档位黑表笔  待测PIN
4. 测量测试PIN到GND的压降。读数为-０.３——   -０.７V为正常，０V则上管与GND　short，如果读数为clamp电压／万用表显示OL则为开路。

综上，测的电压绝对值在０.３－０.７V之间，具体电压是多少和制程有关。

那么有人问，我万用表测出来来就是０.７V左右啊！　我想说，万用表测试没办法控制流经二极管的电流。虽然二极管伏安特性曲线不是线性，但是二极管电压与电流是正相关的。

那么怎么得出 PIN 与 PIN  的 short 呢？

  当测试IO PIN 时候 测A的同时把其他PIN　置０V。

判断：当我们读出０V压降时候意味着PIN　A与其他　PIN有　short情况，单独具体是哪一个PIN没有办法立即判断。

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