亚稳态现象（metastability）

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亚稳态现象（Metastability）

亚稳态现象在数字电路和集成电路中普遍存在,能否最大可能的避免亚稳态,直接决定了设计的成功率.

参考文档：Intel（Altera）《Understanding Metastability in FPGAs》

一、概念

1.定义

触发器的输入数据时序应满足$t_{su}$建立时间和保持时间$t_h$，当输入时序不满足时，触发器就会工作在亚稳态，进而对触发器输出结果造成影响。

2."小球与山坡"模型

Intel官方提供了一种”山坡与小球“模型，形象地描述了fpga中的亚稳态现象。当数据输入位于山脚下时，充分满足了$t_{su}$和$t_h$，即上图Figure1中的前两个示意图，当数据输入时刻不满足$t_{su}$和$t_h$条件时，例如小球落在山顶，此时会造成两种可能现象，第一种：数据采样错误，进而触发器输出电平结果错误，模型中即不能保证小球正确的落向某一侧；第二种：数据输出延时增大，即tco延迟，会导致从时钟采样到输出数据的时间大于满足$t_{su}$和$t_h$条件时的情况，进而可能影响后级的时序。

3.亚稳态时序图分析

Figure 2 亚稳态时序图分析，当输入违背$t_{su}$时（$t_{su}$之前输入未稳定），存在输出A和B两种情况结果并不相同，并且输出延时大于$t_{co}$，这就是亚稳态工作时的典型表现。

二、亚稳态的工作量化指标

可用 MTBF（Mean Time Between Failures，故障平均时间）来定量描述亚稳态的实际影响，MTBF反应了一个系统稳定性程度，MTBF越大，意味着故障间隔时间越长，出现故障概率越低，即稳定性越高。
MTBF可由下式定量计算，$C_1$、$C_2$为器件常量，由工艺特性和环境条件决定。除了器件常量外，其他参数均与用户的设计有关，$f_{CLK}$和$f_{DATA}$分别为采样异步数据时的时钟频率和数据速率，$t_{MET}$为亚稳态输出后的稳定裕量时间，是指提前于tco的裕量，因此tco数值越大，显然亚稳态输出的不确定过程时间越短，工作越稳定，MTBF越大。
$$MTBF=\frac{e^{t_{MET}/C_2}}{C_1\ast f_{CLK}\ast f_{DATA}}$$
对于系统整体的MTBF，宏观反应就是系统设计的失败率（或者是可行率），由各个子同步触发器链的MTBF倒数和决定，下式说明，如果其中一个子部分的MTBF较小，即使其他部分MTBF很理想，那整个系统瘫痪的概率也非常大，因为各部分是级联关系。
$$failure\_rat{e}_{design}=\frac{1}{MTB{F}_{design}}=\sum _{i=1}^{numberofchains}\frac{1}{MTB{F}_i}$$