本文用以说明在E5071C下进行相应校准操作,分为两个部分,TDR(时域反射)和S参数两部分。
注:本文使用的校准套件为:85033E。校准前记得选好频率段,会对结果有一些影响。
1.TDR下校准说明
开机后,通过按键面板“Analysis”触发相应菜单,点击TDR项,将其由OFF转为ON,从而启动TDR功能页面。
进入TDR功能页面后,会有配置向导,我们在向导中进行相应校准操作。
根据需求,选择要校准的信号类型及端口数量,下面笔者以单端信号,2个端口校准(也可以1个端口分两次校准)为例说明。
选择“Options”选项进入校准页面
如果有两套校准件,可以选择“measure all”,笔者只有一套,所以需要每一项(short、open)分别点Port1和Port2。当然,在点之前,需要将校准件对应(short、open)标准件连接到对应端口上,所有完成后点OK。
以上就完成所有校准过程,可以进入测试阶段,测试前要将DUT和网分连接好,两个端口对应DUT上的连接点位无所谓,不影响测量,仅需把待测部分包含在内即可。
2.S参数下校准说明
开机后,通过按键面板“Format”选择“Smith”——“R+jX”模式。
通过按键面板“Cal”进入校准菜单目录,根据所用校准件型号进行选择后进入“Calibrate”子菜单。
可以根据需求,选择1个还是2个端口的校准,也可以分两次按1个端口分别对2个端口进行操作。这里笔者以2个端口校准为例进行操作。
进入2端口子菜单,依次进行反射和传输的校准项。
按照对应校准项,将标准件与要校准端口连接并点击。
传输校准项为将Port1和Port2通过校准件中的直通标准件相连。
**校准完成后,一定要记得点“Done”!!在使用50Ω标准件连接下的Smith图应该为一个中心小圆点,这样才算完成了校准。