TPAMI 2024 | PiCO+:用于鲁棒部分标签学习的对比标签消歧

PiCO+: Contrastive Label Disambiguation for Robust Partial Label Learning

题目:PiCO+:用于鲁棒部分标签学习的对比标签消歧

作者:Haobo Wang; Ruixuan Xiao; Yixuan Li; Lei Feng; Gang Niu; Gang Chen; Junbo Zhao
源码:https://github.com/hbzju/PiCO


摘要

部分标签学习(Partial Label Learning, PLL)是一个重要的问题,它允许每个训练样本被标记为包含真实标签的粗略候选集。然而,在更实际但具有挑战性的场景中,注释者可能遗漏真实标签并提供错误的候选集,这被称为噪声PLL问题。为了解决这个问题,我们提出了PiCO+框架,该框架同时对候选集进行消歧和减轻标签噪声。PiCO+的核心是,我们开发了一种新颖的标签消歧算法PiCO,它由对比学习模块和新颖的基于类原型的消歧方法组成。从理论上讲,我们展示了这两个组成部分是相互有益的,并且可以从期望最大化(Expectation-Maximization, EM)算法的角度进行严格论证。为了处理标签噪声,我们将

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IEEE TPAMI(IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)是一个涵盖模式识别、计算机视觉、图像处理和机器学习等领域的高质量期刊,其中也包括用于缺陷检测的研究。 以下是一些在IEEE TPAMI期刊上发表的用于缺陷检测的论文: 1. "Automatic Defect Detection in X-Ray Images Using Convolutional Neural Networks"(使用卷积神经网络自动检测X射线图像中的缺陷)-- 该论文提出了一种基于卷积神经网络(CNN)的自动缺陷检测方法,该方法可以应用于各种类型的X射线图像中的缺陷检测。 2. "Unsupervised Defect Detection in Textured Materials Using Convolutional Autoencoders"(使用卷积自动编码器在纹理材料中进行无监督缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于卷积自动编码器(CAE)的无监督缺陷检测方法,该方法可以有效地检测纹理材料中的缺陷。 3. "A Hierarchical Approach to Defect Detection in Semiconductor Wafer Images"(半导体晶圆图像缺陷检测的分层方法)-- 该论文提出了一种基于分层方法的缺陷检测方法,可以应用于半导体晶圆图像中的缺陷检测。 4. "Deep Learning-Based Defect Detection in Semiconductor Manufacturing"(基于深度学习的半导体制造中的缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于深度学习的缺陷检测方法,可以应用于半导体制造中的缺陷检测,并且在实验中取得了良好的结果。 这些论文都展示了IEEE TPAMI作为一个重要的期刊,提供了广泛的研究和应用领域,包括缺陷检测。

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