TPAMI 2024 | Hilbert曲线投影距离用于分布比较

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题目:Hilbert Curve Projection Distance for Distribution Comparison

Hilbert曲线投影距离用于分布比较

作者:Tao Li; Cheng Meng; Hongteng Xu; Jun Yu


摘要

分布比较在许多机器学习任务中起着至关重要的作用,如数据分类和生成建模。在这项研究中,我们提出了一种新颖的度量,称为Hilbert曲线投影(HCP)距离,用于以低复杂度测量两个概率分布之间的距离。特别地,我们首先使用Hilbert曲线投影两个高维概率分布以获得它们之间的耦合,然后根据耦合在原始空间中计算这两个分布之间的传输距离。我们证明了HCP距离是一个适当的度量,并且对具有有界支持的概率测度是良好定义的。此外,我们证明了在 d d d维空间中,带有

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IEEE TPAMI(IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)是一个涵盖模式识别、计算机视觉、图像处理和机器学习等领域的高质量期刊,其中也包括用于缺陷检测的研究。 以下是一些在IEEE TPAMI期刊上发表的用于缺陷检测的论文: 1. "Automatic Defect Detection in X-Ray Images Using Convolutional Neural Networks"(使用卷积神经网络自动检测X射线图像中的缺陷)-- 该论文提出了一种基于卷积神经网络(CNN)的自动缺陷检测方法,该方法可以应用于各种类型的X射线图像中的缺陷检测。 2. "Unsupervised Defect Detection in Textured Materials Using Convolutional Autoencoders"(使用卷积自动编码器在纹理材料中进行无监督缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于卷积自动编码器(CAE)的无监督缺陷检测方法,该方法可以有效地检测纹理材料中的缺陷。 3. "A Hierarchical Approach to Defect Detection in Semiconductor Wafer Images"(半导体晶圆图像缺陷检测的分层方法)-- 该论文提出了一种基于分层方法的缺陷检测方法,可以应用于半导体晶圆图像中的缺陷检测。 4. "Deep Learning-Based Defect Detection in Semiconductor Manufacturing"(基于深度学习的半导体制造中的缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于深度学习的缺陷检测方法,可以应用于半导体制造中的缺陷检测,并且在实验中取得了良好的结果。 这些论文都展示了IEEE TPAMI作为一个重要的期刊,提供了广泛的研究和应用领域,包括缺陷检测。
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