TPAMI 2024 | FedCut: 一种可靠检测拜占庭合谋者的光谱分析框架

FedCut: A Spectral Analysis Framework for Reliable Detection of Byzantine Colluders

FedCut: 一种可靠检测拜占庭合谋者的光谱分析框架

Hanlin Gu; Lixin Fan; XingXing Tang; Qiang Yang


摘要

本文提出了一个通用的光谱分析框架,用于应对联邦学习中的安全风险,这些风险由一组恶意的拜占庭攻击者或合谋者造成,他们密谋上传恶意模型更新,从而严重降低全局模型的性能。该框架从光谱分析的角度出发,描绘了拜占庭合谋者模型更新之间的强一致性和时间一致性,并将拜占庭异常行为的检测公式化为加权图中的社区检测问题。然后利用修改后的标准化图割方法区分攻击者和良性参与者。此外,采用光谱启发式算法,使检测在各种攻击下都能保持鲁棒性。所提出的抗拜占庭合谋者的方法,即FedCut,保证在有界误差内收敛。在各种设置下的广泛实验结果证明了FedCut的优越性,在各种攻击下表现出极其稳健的模型准确性(MA)。实验表明,FedCut的平均MA比最先进的抗拜占庭方法高出2.1%到16.5%。在最坏情况下

IEEE TPAMIIEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)是一个涵盖模式识别、计算机视觉、图像处理和机器学习等领域的高质量期刊,其中也包括用于缺陷检测的研究。 以下是一些在IEEE TPAMI期刊上发表的用于缺陷检测论文: 1. "Automatic Defect Detection in X-Ray Images Using Convolutional Neural Networks"(使用卷积神经网络自动检测X射线图像中的缺陷)-- 该论文提出了一种基于卷积神经网络(CNN)的自动缺陷检测方法,该方法可以应用于各种类型的X射线图像中的缺陷检测。 2. "Unsupervised Defect Detection in Textured Materials Using Convolutional Autoencoders"(使用卷积自动编码器在纹理材料中进行无监督缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于卷积自动编码器(CAE)的无监督缺陷检测方法,该方法可以有效地检测纹理材料中的缺陷。 3. "A Hierarchical Approach to Defect Detection in Semiconductor Wafer Images"(半导体晶圆图像缺陷检测的分层方法)-- 该论文提出了一种基于分层方法的缺陷检测方法,可以应用于半导体晶圆图像中的缺陷检测。 4. "Deep Learning-Based Defect Detection in Semiconductor Manufacturing"(基于深度学习的半导体制造中的缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于深度学习的缺陷检测方法,可以应用于半导体制造中的缺陷检测,并且在实验中取得了良好的结果。 这些论文都展示了IEEE TPAMI作为一个重要的期刊,提供了广泛的研究和应用领域,包括缺陷检测
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