论文信息
题目:YOLO-HMC: An Improved Method for PCB Surface Defect Detection
YOLO-HMC:一种改进的印刷电路板表面缺陷检测方法
作者:Minghao Yuan, Yongbing Zhou, Xiaoyu Ren, Hui Zhi, Jian Zhang, Haojie Chen
论文创新点
- 提出新型YOLO-HMC框架:论文提出了基于改进YOLOv5的YOLO-HorNet-MCBAM-CARAFE(YOLO-HMC)框架,在保证检测精度和速度提升的同时,实现了网络模型的轻量化,能够更准确、高效地识别微小尺寸的PCB缺陷。
- 改进骨干网络:骨干部分采用HorNet结构,通过递归门控卷积和深度可分离卷积等操作,增强了特征提取能力,深化了信息交互,