基础练习 芯片测试
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问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。输入格式 输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。输出格式 按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号样例输入3
1 0 1
0 1 0
1 0 1样例输出1 3
package com.quz._01_基础练习;
import java.util.Random;
import java.util.Scanner;
public class _23_芯片测试 {
public static int n;
public static void main(String[] args) {
Scanner inp = new Scanner(System.in);
n = inp.nextInt();
int[][] arr = new int[n+1][n+1];
for (int i = 1; i < n+1; i++) {
Scanner inpStr = new Scanner(System.in);
String[] strings = inpStr.nextLine().split(" ");
for (int j = 1; j < n+1; j++) {
arr[i][j] = Integer.parseInt(strings[j-1]);
}
}
int[] arr1 = new int[n+1];
for (int i = 1; i < n+1; i++) {
for (int j = 1; j < n+1; j++) {
arr1[i] += arr[j][i];
}
arr1[i]--;
}
for (int i = 1; i < arr1.length; i++) {
if (arr1[i] >= n/2) {
System.out.print(i + " ");
}
}
}
}