低压直流浪涌的整改案例？（下）

针对市面上各种快充型手机，其适配器输出的常规电压为5V DC，但若采用高压大电流或者高压低电流的快充模式，最高输入电压有可能达到20V DC以上。

另外，USB充电头在插拔瞬间也易产生一些强干扰脉冲注入到端口中；因此，有必要对手机的相应端口进行耐压能力的评估测试。

在日常工作中，低压浪涌类测试整改项目也是最常见的项目之一；因端口防护设计不良造成的失效也是多种多样，包括IC芯片烧毁、产品关机/复位、端口器件烧毁等。

经过经验丰富的现场整改工程师定位整改后，绝大部分产品均能通过最优方案解决浪涌失效问题。

 一、整改案例

某TWS充电仓要求满足差模100V浪涌测试，40V注入无异常，但在50V注入时就出现了充电指示灯熄灭、无充电电流输入的异常：

定位分析发现：产品Type-C输入的最高电压为20V、同时后级被保护芯片的耐压为28V（根据多年的整改经验，一般被保护模块能承受的浪涌冲击电压是其直流耐压的1.4~1.5倍左右，即本款产品芯片应能承受40V左右的耐压，实际测试结果40V OK、50V Fail也说明了这一问题）；所以选择的防护器件要保证反向截止电压大于20V、同时钳位电压务必要小于40V。

综合考量及现场实测，最终选择了22V防浪涌器件（BTRSF22A401，其规格参数如图5），其残压较低，保证不会烧毁芯片（选用其他高耐压的器件，虽然器件本身未被损坏，但因钳位会比较高，烧毁了几次芯片）：

 图1 BTRSF22A401器件参数

最终的解决方案为：如图6，Type-C输入的VCC对地加防浪涌器件。

经过整改，产品最终通过100V等级测试，复测验证多次均无异常。

 图2 Type-C接口防护

二、总结

1、低压浪涌防护也是以泄放、钳位为主要手段，器件主要用TVS和TSS；

2、器件选型时需注意确保残压对后级被保护电路的影响同时，要注意端口自身的耐压；即保证被保护的模块得到保护的同时，也要保证防护器件本身不易损坏。

以上就是小编给您们介绍的低压直流浪涌的整改案例的内容，希望大家看后有所帮助！