问题现象:
40块仪表挂接400米总线进行高低温通讯测试时,部分仪表出现无法通讯的情况,导致通讯丢帧率高。
问题分析
原理图:
通过对上面原理图部分进行计算,发送为1时,光耦管压降为1.3V左右,则BR33部分电流为2ma,光耦传输比为200-400,高温环境下,传输比会降到40%(下右图为光耦的传输比及温度曲线),即0.8,光耦CE电流为1.6ma,BR37上电压为0.3V,三极管处于未知状态,故导致无发出信号,通讯不良。
解决方法:
经过对电路上BR33阻值改为360R,理论上计算的BR37上电压为0.8V,三极管管压降为0.7V,BR35电压为0.1V,经过放大后BR34上的电压为10V,足以将V485拉低到地。经后面测试验证后总线挂接92块仪表,通讯丢帧率为十万分之1。
总结建议:
再使用模拟光耦时,需要注意传输比及温度影响。
新的磁隔离芯片,可有效规避传输比及温度影响问题, 建议使用。