Tessent shell atpg流程



Tessent shell atpg流程

1) 指定netlist中已插入的edt logic
   set_edt_instances -edt_logic_top
   set_edt_instances -decompressor
   set_edt_instances -compactor

2) 指定已插入的scan chain
   add_scan_groups  groups名 "test procedure文件名"
   一般情况下,add_scan_groups和add_scan_chains 配合使用。如:
   add_scan_groups   grp1  ./testproc/chip.testproc
   add_scan_chains -internal 1 grps  a_in_reg[0]  a_out_reg[0]
   add_scan_chains -internal 2 grps  a_in_reg[1]  a_out_reg[1]

3) test procedure说明

   参见tessent shell user's manual的chapter 6 Test Procedure File
   在test procedure中首先要指定time scale单位,不指定则默认为1ns。timeplate中单位以time scale单位作为基本单位,所以必须为整数。
   test procedure必须包含shift, load_unload, timeplate. 而test_setup为可选。
   test_setup: 仅可使用force,pulse,init和expect evnet 等statement.
用于为一些non-scan

参考资料:

1. tessent shell user's manual
   安装路径下 doc/pdfdocs/tshell_user.pdf
2. tessent shell reference manual
   安装路径下 doc/pdfdocs/tshell_ref.pdf

  • 3
    点赞
  • 19
    收藏
    觉得还不错? 一键收藏
  • 0
    评论
Tessent EDT ATPG (自动测试程序生成)是一种专业的芯片测试解决方案。Tessent EDT ATPG 是迅捷先进公司推出的一套创新的测试生成工具,旨在帮助半导体芯片制造商更高效地进行芯片测试。Tessent EDT ATPG 可以有效地避免由于设计错误而导致的芯片故障,提高芯片测试的质量和效率。 Tessent EDT ATPG 的实施过程主要分为三个主要步骤。首先,需要创建一个测试模型,该模型描述了芯片的功能、输入和输出。然后,通过设置测试要求和约束条件,生成测试向量,用于模拟和测试芯片。最后,使用生成的测试向量,通过电子工具和测试平台对芯片进行测试和验证。这样,制造商可以及时发现和修复芯片中的错误,确保芯片的质量和可靠性。 Tessent EDT ATPG 的特点主要体现在以下几个方面:首先,它提供了一种高度灵活且易于使用的测试生成方法。不同类型的芯片可以使用不同的测试方法,以满足不同的测试需求。其次,它具有高效的测试向量生成能力,可以快速生成高覆盖率的测试向量。再次,它提供了全面的故障模型,可以针对不同类型的故障进行测试。最后,它支持多种测试平台和工具的集成,方便制造商进行芯片测试和验证。 总之,Tessent EDT ATPG 是一种专业的芯片测试解决方案,能够帮助半导体芯片制造商提高芯片测试的质量和效率。通过使用 Tessent EDT ATPG 可以有效地降低芯片故障的风险,并且加快芯片的上市时间,促进半导体产业的发展。

“相关推荐”对你有帮助么?

  • 非常没帮助
  • 没帮助
  • 一般
  • 有帮助
  • 非常有帮助
提交
评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

红包个数最小为10个

红包金额最低5元

当前余额3.43前往充值 >
需支付:10.00
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明:

1.余额是钱包充值的虚拟货币,按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载,可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值