N32G430学习笔记26---spi flash W25Q128 读写测试

已于 2023-06-29 16:47:49 修改
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分类专栏： N32G430 文章标签： spi flash W25Q128 n32g430
于 2023-04-11 22:03:48 首次发布
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本文链接：https://blog.csdn.net/u010261063/article/details/130094777
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这篇博客介绍了作者在N32G430微控制器上进行SPI Flash W25Q128的读写测试，通过实验发现W25Q128内部表现为环形缓冲区，即在0x200000地址写入的数据可以从0x000000地址读出。博客中涉及了bsp_w25qxx和w25qxx的相关源文件。
摘要由CSDN通过智能技术生成

环形缓冲区的实现

今天我使用W25Q16做了一个测试，发现了W25Q16内部是一个环形缓冲区，在0x200000地址处写入数据，我可以在0x000000处读取到0x200000地址的数据，从这里就可以正面W25Q16是一个环形缓冲区的norfalsh
请添加图片描述

spi flash W25Q128 读写测试

bsp_w25qxx.h
#ifndef _BSP_BSP_W25QXX_H_
#define
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