IC 设计 验证 -学习笔记

IC 设计 验证
编写 TESTBENCH 的目的是为了对使用硬件描述语言设计的电路进行仿真验证，测试
设计电路的功能、性能与设计的预期是否相符。通常，编写测试文件的过程如下：
• 产生模拟激励（波形）；
• 将产生的激励加入到被测试模块中并观察其响应；
• 将输出响应与期望值相比较。
完整的test bench 文件结构

时钟激励
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时钟激励产生方法一：50%占空比时钟
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parameter ClockPeriod=10;
initial
begin
clk_i=0;
forever
#(ClockPeriod/2) clk_i=~clk_i;
End

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时钟激励产生方法二：50%占空比时钟
----------------------------------------------------------------/
initial
begin
clk_i=0;
always #(ClockPeriod/2) clk_i=~clk_i;
End

/----------------------------------------------------------------
时钟激励产生方法四：产生固定数量的时钟脉冲
----------------------------------------------------------------/
initial
begin
clk_i=0;
repeat(6)
#(ClockPeriod/2) clk_i=~clk_i;
End

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时钟激励产生方法五：产生非占空比为 50%的时钟
----------------------------------------------------------------/
initial
begin
clk_i=0;
forever
begin
#((ClockPeriod/2)-2) clk_i=0;
#((ClockPeriod/2)+2) clk_i=1;
end
End

复位信号设计：
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复位信号产生方法一：异步复位
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initial
begin
rst_n_i=1;
#100;
rst_n_i=0;
#100;
rst_n_i=1;
end
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复位信号产生方法二：同步复位
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initial
begin
rst_n_i=1;
@（negedge clk_i)
rst_n_i=0;
#100; //固定时间复位
repeat(10) @（negedge clk_i); //固定周期数复位
@（negedge clk_i)
rst_n_i=1;
end
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复位信号产生方法三：复位任务封装
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task reset;
input [31:0] reset_time; //复位时间可调，输入复位时间
RST_ING=0; //复位方式可调，低电平或高电平
begin
rst_n=RST_ING; //复位中
#reset_time; //复位时间
rst_n_i=~RST_ING; //撤销复位，复位结束
end
Endtask

特殊信号设计
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特殊激励信号产生描述一：输入信号任务封装
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task i_data;
input [7:0] dut_data;
begin
@(posedge data_en); send_data=0;
@(posedge data_en); send_data=dut_data[0];
@(posedge data_en); send_data=dut_data[1];
@(posedge data_en); send_data=dut_data[2];
@(posedge data_en); send_data=dut_data[3];
@(posedge data_en); send_data=dut_data[4];
@(posedge data_en); send_data=dut_data[5];
@(posedge data_en); send_data=dut_data[6];
@(posedge data_en); send_data=dut_data[7];
@(posedge data_en); send_data=1;
#100;
end
endtask
//调用方法：i_data(8’hXX);
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特殊激励信号产生描述二：多输入信号任务封装
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task more_input;
input [7:0] a;
input [7:0] b;
input [31:0] times;
output [8:0] c;
begin
repeat(times) //等待 times 个时钟上升沿
@(posedge clk_i)
c=a+b; //时钟上升沿 a，b 相加
end
endtask
//调用方法：more_input(x,y,t,z); //按声明顺序
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双向信号描述一：inout 在 testbench 中定义为 wire 型变量
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//为双向端口设置中间变量 inout_reg 作为 inout 的输出寄存，其中 inout 变
//量定义为 wire 型，使用输出使能控制传输方向
//inout bir_port;
wire bir_port;
reg bir_port_reg;
reg bi_port_oe;
assign bi_port=bi_port_oe ? bir_port_reg : 1’bz;
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双向信号描述二：强制 force
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//当双向端口作为输出口时，不需要对其进行初始化，而只需开通三态门
//当双向端口作为输入时，只需要对其初始化并关闭三态门，初始化赋值需
//使用 wire 型数据，通过 force 命令来对双向端口进行输入赋值
//assign dinout=(!en) din :16’hz; 完成双向赋值
initial
begin
force dinout=20;
#200
force dinout=dinout-1;
end
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特殊激励信号产生描述三：输入信号产生,一次 SRAM 写信号产生
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initial
begin
cs_n=1; //片选无效
wr_n=1; //写使能无效
rd_n=1; //读使能无效
addr=8’hxx; //地址无效
data=8’hzz; //数据无效
#100;
cs_n=0; //片选有效
wr_n=0; //写使能有效
addr=8’hF1; //写入地址
data=8’h2C; //写入数据
#100;
cs_n=1;
wr_n=1;
#10;
addr=8’hxx;
data=8’hzz;
end
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Testbench 中@与 wait
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//@使用沿触发
//wait 语句都是使用电平触发
initial
begin
start=1’b1;
wait