散粒噪声是白噪声吗_光电探测器APD噪声与信噪比

1 过剩噪声

在APD中，每个光生载流子不会经历相同的倍增过程，具有随机性，这将导致倍增增益的随机波动，这种起伏产生了一种超过原来只有散粒噪声得到放大的噪声水平，这称为过剩噪声。

式种，x是过程噪声指数，其与器件所用材料和制造工艺有关。Si-APD的x在0.3~0.5之间，Ge-APD的x在0.8~1.0之间，InGaAs-APD的x在0.5~0.7之间。

2 信噪比

探测器输出的信号光散粒噪声电流的均方为：

其中

是噪声系数，它与雪崩过程的随机特性有关。

另外暗电流是指，在没有光入射时流过检测器偏置电路的电流，它是体暗电流        

和表面电流之和。来自于检测器的pn结内因为热运动而产生的电子空穴。对于APD，为

表面暗电流由表面结构(缺陷，清洁程度，面积大小)和偏置电压决定

热噪声是电阻种电子的热运动引起，电路种只要由电阻存在，这一噪声就必不可免，APD的热噪声电流的均方为

其中为玻尔兹曼常熟，T是绝对温度。

探测器的总均方噪声电流为

APD探测器上的各项噪声相互独立，所以可视范围内有信号光到达APD探测器时，输出总噪声电流的均方根为四项噪声之和，即信噪比为

对于pin光电二极管，主要噪声电流来自于检测器负载电阻和放大电路的有源器件；而对于雪崩二极管，热噪声并不占重要地位，主要噪声来源于光电检测器的散粒噪声和体暗电流噪声。

Si,Ge,InGaAs雪崩二极管通用特征参数