散粒噪声 shot noise 泊松噪声

博客探讨了散粒噪声,也称作泊松噪声或shot noise,它是由于光的粒子性和CMOS成像过程中光子接收的随机性导致的。当光源强度增加时,虽然噪声水平也增大,但信噪比提高。散粒噪声遵循泊松分布,其特征在CMOS raw图像中明显,表现为随着光强增加,噪声增加。
摘要由CSDN通过智能技术生成

在raw image中,主要的噪声为两种,高斯噪声和散粒噪声,其中,高斯噪声是与光强没有关系的噪声,无论像素值是多少,噪声的平均水平(一般是0)不变。另一种是散粒噪声,因为其符合泊松分布,又称为泊松噪声,下图可见,泊松噪声随着光强增大,平均噪声也增大。

 

什么是散粒噪声?

散粒噪声=泊松噪声=shot noise=poisson noise

Shot noise存在的根本原因是因为光是由离散的光子构成(光的粒子性)。我们来看看光源发出的光是怎么在CMOS上面成像的。光源发出的光子打在CMOS上,从而形成一个可见的光点(简化成如下图所示,忽略光学元件和电路等)。光源每秒发射的光子到达CMOS的越多,则该像素的灰度值越大。但是因为光源发射和CMOS接收之间都有可能存在一些因素导致单个光子并没有被CMOS接收到或者某一时间段内发射的光子特别多,所以这就导致了灰度值会有波动,也就是所谓的散粒噪声。

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