散粒噪声是白噪声吗_散粒噪声

定义：量子限制的强度噪声。

在很多情况下(例如，采用光二极管或者CCD测量时)都能观察到的限制光强度噪声的散粒噪声。这是一种量子噪声效应，与光子和电子的离散性有关。最初，认为散粒噪声来源于光探测器吸收光子的随机性，也就是说它是来源于光场自身的噪声。散粒噪声水平的强度噪声是在单位时间的吸收概率是常数与之前的吸收过程无关的情况下可以得到。然而，存在振幅压缩光，其强度噪声是小于散粒噪声的(亚泊松强度噪声)，证明了散粒噪声是光场自身的性质，而不仅仅来源于探测过程，尽管有时探测器散粒噪声水平很高需要对光进行衰减，这样可以提高相对强度的散粒噪声水平(参阅相对强度噪声)。

相干态的强度噪声处于散粒噪声水平，可以通过激光器输出的高噪声频率来估测。噪声频率比较低时，由于存在弛豫振荡，跳模，附加泵浦噪声及其它效应，激光器噪声更大。白炽灯的强度噪声与散粒噪声水平相当。振幅压缩光的噪声水平可以达到散粒噪声以下，是由原始的相干态经过非线性相互作用得到的。

图1：平衡零差测量示意图。

散射噪声水平的测量

具有很高量子效率和合适电子回路的光探测器测量时的强度噪声需要达到亚散粒噪声水平。常用的装置如图1所示的平衡零差探测器，包含一个分束器将50%的光功率传输到每一个探测器，因此可以得到光电流的和与差的电子信号。光电流的和与采用单个探测器直接测量的结果相同，而差分信号则提供了散粒噪声水平的一个参考。词条光外差探测中有更多细节。

电子器件中的热噪声是一个很大的问题，尤其是为了得到高的探测带宽需要将光电流在电阻器中被转化成电压信号时。另外，需要探测全部的光功率，也就是说，不能测量经过衰减的光束。否则，