32f4怎样同时采集两个adc_一个单片机ADC的挖坑填坑之旅

本文介绍了在使用STM32F4 ADC采集电池电压时遇到的问题,即高阻抗分压电路导致的ADC值与实际测量值相差较大。分析了STM32 ADC的电气特性,指出输入阻抗限制和寄生电容对精度的影响,并提出通过增加低功耗运放进行阻抗变换的解决方案。总结强调在设计ADC采样电路时应注意芯片手册的电气特性参数。
摘要由CSDN通过智能技术生成

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[导读] 本文来解析一个盆友在使用STM32采集电池电压踩过的坑。以STM32F4 的ADC属于逐次逼近SAR 型ADC为例进行分析,参考STM32F405xx  Datasheet,对于如何编写ADC程序就不做描述了。

先描述一下坑

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采集电池电压,利用两个电阻将电池电压分压,然后送入单片机,当电阻如上分别取4M欧/1M欧时,ADC采集到的ADC值与万用表测得的ADC输入端相差很大,取30K欧以及10k欧时,则相差变小。

盆友咨询我这是为什么?我给出了建议,先卖个关子,先来看看应用最为广泛的STM32单片机的一些特性。

STM32 ADC:

STM32 12位ADC是逐次逼近型的模数转换器。它有多达19个多路复用通道,允许它测量来自16个外部

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