晶圆缺陷检测设备_IC芯片缺陷检测使用X-RAY无损检测设备效果最佳

IC芯片,中文可理解为集成电路，是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容量、晶振二极管等等)形成的集成电路放在一块基板上，做成一块芯片。IC芯片比较常见的便是我们常用的数码电子产品中，如电视、电脑、手机中的芯片都可以叫做IC芯片。

芯片是智能设备的核心，就如同汽车的发动机一样，对整个产品起着关键性的作用。因此，IC芯片的质量对整个电子产品的作用非常大，它影响着整个产品上市后的质量问题。一般企业为了确保IC芯片是否存在质量问题，通常会对IC芯片进行检测，市场上多采用X-RAY检测设备来进行质量鉴定。

但集成电路是一种比较精密的电子元器件，将所需要用到的电子元器件(晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件)封装在一个管壳内，成为电路所需的功能性微型结构体，结构越精密，检测难度越大。

IC芯片X-RAY检测设备是专门为IC芯片做透视检测其内部缺陷的一款无损检测设备，它是IC芯片缺陷检测效果最佳的方式之一。

X-RAY检测设备主要依靠内部X光管发射X射线照射IC芯片成像，X射线穿透物体后，数字平板器接收图像信号，进而传输至电脑，软件处理后，在屏幕上实时成像。

X-RAY检测对IC芯片是属于无损检测范畴，检测完的样品可以再次投入使用，这样有效地节约了解生产检验成本。