dry的原理_Dry Etch 工艺基本原理及良率剖析(经典讲解)

Dry Etch

工序的目的

广义而言,所谓的刻蚀技术,是将显影后所产生的光阻图案真实地转印到光阻下的

材质上,形成由光刻技术定义的图形。

它包含了将材质整面均匀移除及图案选择性部分去除,

可分为湿式刻蚀

(wet etching)

和干式刻蚀

(dry etching)

两种技术。

湿式刻蚀具有待刻蚀材料与光阻及下层材质良好的刻蚀选择比(

selectivity

)。

然而,由于化学反应没有方向性,因而湿式刻蚀是各向同性刻蚀。当刻蚀溶液做纵

向刻蚀时,侧向的刻蚀将同时发生,进而造成底切(

Undercut

)现象,导致图案线

宽失真,如下图所示。

底切现象

1970

年以来,

元件制造首先开始采用电浆刻蚀技术

(也叫等离子体刻蚀技术)

人们对于电浆化学性的了解与认识也就越来越深。

在现今的半导体集成电路或面板制造过程中,要求精确地控制各种材料尺寸至次微

米大小,而且还必须具有极高的再现性,电浆刻蚀是现今技术中唯一能极有效率地

将此工作在高良率下完成的技术,因此电浆刻蚀便成为半导体制造以及

TFT LCD

Array

制造中的主要技术之一。

``` go athena # line x loc=0.00 spac=0.5 line x loc=1 spac=0.1 line x loc=4 spac=0.1 line x loc=6 spac=0.1 line x loc=10 spac=1 line x loc=20 spac=3 line x loc=40 spac=1 line x loc=72 spac=0.1 line x loc=75 spac=0.5 line y loc=0.00 spac=0.1 line y loc=1 spac=0.05 line y loc=2.5 spac=0.1 line y loc=4.5 spac=0.5 init silicon c.boron=7.0e14 orientation=100 diffus time=10 temp=950 dryo2 press=1.00 hcl.pc=2 deposit barrier thick=0.3 divisions=3 etch barrier right p1.x=5.5 # N well implant phosphor dose=2.5e12 energy=100 crystal etch barrier all # Nwell annealing diffus time=30 temp=800 t.final=1150 nitro press=1.00 diffus time=90 temp=1150 nitro press=1.00 diffus time=30 temp=1150 t.final=800 nitro press=1.00 etch oxide all #y=1-0.5*exp(-2*(x·60)^2/200) etch silicon start x=0 y=1 etch continue x=0.1 y=1 etch continue x=75.1 y=-0.1 etch done x=0 y=-0.1 deposit barrier thick=0.3 divisions=3 etch barrier left p1.x=4.5 # Pwell implant boron dose=1.0e13 energy=35 crystal etch barrier all # Pwell annealing diffus time=150 temp=1050 nitro press=1.00 etch oxide all diffus time=20 temp=950 dryo2 press=1.00 hcl.pc=2 etch oxide dry thick=0.02 deposit oxide thick=0.18 divisions=10 extract name="pos"(5.0) etch oxide left p1.x=$"pos" etch oxide right p1.x=72 extract name="sio2" thickness material="SiO~2" mat.occno=1x.val=2 etch oxide dry thick=$"sio2"/le4 # gate oxide diffus time=52 temp=950 dryo2 press=1.00 hcl.pc=3 deposit nitride thick=0.2 divisions=2 etch nitride left p1.x=5 # channel adjust implant5e11 implant boron dose=5.0e11 energy=10 crystal etch nitride all deposit polysilicon thick=0.2 divisions=5 implant phosphor dose=1e15 energy=30 crystal extract name="pos1"(12.0) etch polysilicon left p1.x=2.0 etch polysilicon right p1.x=$"pos1" method fermi compress diffus time=3 temp=900 weto2 press=1.00 deposit nitride thick=0.1 divisions=1 etch nitride right p1.x=1.0 implant arsenic dose=1.0e16 energy=50 crystal etch nitride all deposit barrier thick=0.2 divisions=2 etch barrier left p1.x=0.8 etch oxide left p1.x=0.8 implant bf2 dose=5.0e15 energy=50 crystal etch barrier all method fermi compress diffus time=3 temp=950 nitro press=1.00 diffus time=1 temp=950 dryo2 press=1.00 hcl.pc=2 #extract some parameters extract name="x_ndrifi" xj material="Silicon" mat.occno=1 y.val=1.1\junc.occno=3 extract name="t_si" thickness material="Silicon" mat.occno=1 y.val=1.1 extract name="pos_sio2"$"t_si"/le4-$"x_ndrift" deposit oxide thick=0.3 divisions=6 etch oxide above p1.y=-0.4 struct outfile=temp 1.str etch oxide start x=0.4 y=1.1 etch cont x=1.65 y=1.1 etch cont x=1.65 y=-0.6 etch done x=0.4 y=-0.6 etch oxide start x=73 y=1.1 etch cont x=75.5 y=1.1 etch cont x=75.5 y=-0.6 etch done x=73 y=-0.6 deposit aluminum thick=0.2 divisions=2 etch aluminum start x=3 y=1.1 etch cont x=71 y=1.1 etch cont x=71 y=-0.9 etch done x=3 y=-0.9 electrode name=source x=0.6 electrode name=drain x=74.5 electrode name=gate x=3.5 struct outfile=ldmos_ssq.str tonyplot ldmos_ssq.str```根据这个代码画出它的器件结构图
03-24
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