离子注入形成的掺杂分布,不同网格密度产生的效果
网格点稀疏
#启功工艺仿真器
go athena
#定义网格
# x:0-1,间距是1。即x方向有1个网格点。
# y:0-5,间距是0.1.即y方向有50个网格点
# x,y方向没有网格,意味着,这是一个一维的程序
line x loc=0.0 spac=1.0
line x loc=1.0 spac=1.0
line y loc=0.0 spac=0.1
line y loc=5 spac=0.1
#初始掺杂材料
#初始掺杂材料是磷p,掺杂浓度=1e14。n型掺杂。
init c.phospho=1e14
#离子注入implant。
#注入硼,注入剂量1e15
implant boron dose=1e15 energy=10
#定义器件结构输出文件
structure outfile=diode.str
TonyPlot展示的 diode.str结果
离子注入,
沿着x轴方向没有变化(因为x方向没有定义掺杂的范围,默认是均为掺杂),
沿着y轴方向 应该是高斯分布
看总掺杂浓度
网格点变密集
网格点变密,其他不变
go athena
#y轴方向网格点变密
line x loc=0.0 spac=1.0
line x loc=1.0 spac=1.0
line y loc=0.0 spac=0.01
line y loc=5 spac=0.01
init c.phospho=1e14
implant boron dose=1e15 energy=10
structure outfile=diode.str
仿真结果
对比结论
如果把网格点打的稀疏,会因为网格点离散化不够,没有精确拟合物理量变化的所有趋势。
把网格点设置的密一些,会发现更丰富的信息。
参考: