模拟芯片测试之CONT测试

擦干净的橡皮擦

已于 2023-02-20 21:36:32 修改

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分类专栏： PTE 模拟芯片测试 FT 文章标签：集成测试

于 2023-02-20 21:27:05 首次发布

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模拟芯片测试

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CONT测试

1、意义

CONT测试是检验芯片引脚与测试座（SOCKET）之间接触是否良好的重要依据，是进行后续测试的关键。

2、内容

开尔文连接是芯片测试的重要方法，该方法从芯片引脚引出两条走线，这两条走线称为FORCE端和SENSE端，其中FORCE端用于输入或输出，SENSE端用于测量该引脚的电流或电压值（原理同万用表）。在接触良好的前提下，芯片每个引脚都压在对应的FRCE和SENSE端，如图所示。
在这里插入图片描述
上图是一个简单的芯片，一共有三个引脚，其封装形式为SOT23-3，当其装在SOCKET上时，每个脚会与两根铜丝接触，如图所示。

当某个脚与其对应的两根铜丝接触不好时，这两根铜线之间的阻值就会变大，因此可以用阻值来反应芯片是否放置好。

3、编程

常见的测试机，例如国产的ACCOTEST 8200F、CTA8280F以及ETS88等，测试机编程语言大同小异，这里以8200为例。CONT的值一般在20欧姆以下，如果阻值太大，接下来的测试结果就会不太准确。

	cbit.SetOn(K2, K3, K22, K29, -1);  //所需的继电器
	delay_ms(3);//延迟3ms
	fovi0.Set(FI, 1e-3f, FOVI_1V, FOVI_10MA, RELAY_ON);//给FORCE端电流
	fovi1.Set(FI, 1e-3f, FOVI_1V, FOVI_10MA, RELAY_ON);//给电流
	delay_ms(1);
	fovi0.MeasureVI(30, 10);//测sense端电流电压
	fovi1.MeasureVI(30, 10);
	for (i = 0; i<SITENUM; i++)
	{
		CONT_VCC->SetTestResult(i, 0, fovi0.GetMeasResult(i, MVRET) / (fovi0.GetMeasResult(i, MIRET) + 1e-12f));
		CONT_RESET->SetTestResult(i, 0, fovi1.GetMeasResult(i, MVRET) / (fovi1.GetMeasResult(i, MIRET) + 1e-12f));
	}