Noise sharping SAR ADC with DAC DEM

Noise sharping SAR ADC或普通的SAR ADC中的电容DAC存在失配，影响INL和DNL静态指标，而有些应用（如通信）对SFDR（无杂散动态范围）要求比较高，所以DAC可以采用DEM技术来提升DAC的匹配度。

DEM技术 （Dynamic Element Matching）‌是一种用于改善 DAC （Digital-to-Analog Converter）性能的技术，主要通过随机化组件不匹配来减少非线性失真。DEM技术通过加扰组件的使用模式，使得不匹配导致的误差成为与输入序列不相关的伪随机噪声，从而避免了非线性失真。

参考《A 97.99 dB SNDR, 2 kHz BW, 37.1 μW Noise-Shaping SAR ADC with Dynamic Element Matching and Modulation Dither Effect》这篇文档

高位采用温度计编码，同时采用DEM技术，测量一个固定的信号，测量多次，每次转换时，假设某个权重，随机抓取需要的电容的个数，通过DEM技术使每次用到的电容不尽相同，由于电容的匹配特性是高斯分布，所以它的失配平均值为0，这样就可以让DAC电容失配的匹配误差所引起的谐波失真分量平均到整个频带，增大了DAC的SFDR的范围。同时也可以看到DEM技术是牺牲DAC信噪比为代价来提升线性度。DEM总结为一句话就是多次失配叠加后再平均，降低了非线性度，提升了信噪比。

如果我们刚好使用Noise sharping技术，由于Noise sharping可以通过过采样和噪声整形技术，可以压制信号带宽内的噪声，并把它搬移到高频处，同时通过后续的滤波器把高频噪声滤掉，这样就可以提升信噪比。所以DEM技术和Noise sharping 技术可以配合起来使用一个提升了线性度，一个提升了信噪比。

文章中通过DEM技术和三阶nosie sharping 噪声整形技术得到了很好的SNR和SNDR。