问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
#include<stdio.h>
int main()
{
int i,j,n,count;
scanf("%d",&n);
int a[n+1][n+1],b[n+1];
for(i=1;i<=n;i++) //输入
{
for(j=1;j<=n;j++)
{
scanf("%d",&a[i][j]);
}
}
for(j=1;j<=n;j++)
{
count=0; //芯片好的比坏的多,故1的个数大于n/2+1的列符合条件
for(i=1;i<=n;i++)
{
if(a[i][j]==1)
{
count++;
}
}
if(count>=(n/2+1))
{
printf("%d ",j);
}
}
return 0;
}