BASIC-23 基础练习 芯片测试

题目描述

有n块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。 

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。 

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。 

输入

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。 
 

第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i,  j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本  身进行测试）。 

（2≤n≤20）

输出

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号 

样例输入

3 
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

解决：根据被测芯片测出结果数量判断

根据题目已知好芯片数大于坏芯片数，故对于某被测芯片，若其为好芯片，则超过半数芯片对其测试结果为1；若其为坏芯片，则超过半数芯片对其测试结果为0。因此只需要统计该芯片被测试的结果数量，并与芯片总数的半数比较即可。

n = int(input())
outcome = [0]*n
for i in range(n):
    for idx, j in enumerate(input().split()):
        outcome[idx] += int(j)
    
for i in range(n):
    if outcome[i]>(n/2):
        print(i+1, end=' ')