试题 基础练习 芯片测试
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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
思路:
这个題其实关键的解题就一个,只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数,就可以判断这个是一个好芯片。为什么呢?因为题目中说了,其中坏的芯片的判断是随即的要不是1要不是0,所以对一个好的芯片(被检测)的判断而言,用坏的去判断(检测方)这个好的,显示1和显示0的概率都是50%,而如果还有一个好的芯片(检测方)也去判断这个好的芯片(被检测),这个结果一定是1,所以这个显示1的总数一定会大于显示0的个数。所以可以直接使用行代表对应的芯片进行对列的数值进行比较就行,如果为1则进行sum+1,只要sum > n / 2那么就是好的芯片。
代码如下所示:
import java.util.Scanner;
/**
* @author Liaozicai
*/
public class Main
{
public static void main(String[] args)
{
Scanner sc = new Scanner(System.in);
//输入芯片的个数
int count = sc.nextInt();
// 芯片测试的结果
int[][] chip = new int[count][count];
// 或者这样简单的输入 ;所有芯片的测试结果,初始化矩阵
for (int i = 0; i < count; i++)
{
for (int j = 0; j < count; j++)
{
chip[i][j] = sc.nextInt();
}
}
//判断是否是好芯片,就看测试结果中的1是否超过半数;因为好芯片总多于坏芯片,
//其余所有的芯片测试一个芯片,若是被测试的是好芯片,这一列的1肯定超过半数,
//我们就用sum来记录测试结果中的1的个数
int sum = 0;
//用其余所有的芯片来测试一个芯片,我们要去看这个芯片的测试结果,
//就是要去遍历测试矩阵的列,一列就是一个芯片的测试结果
//通过列去遍历 这样就是其他的芯片对一个芯片的判断
for (int col = 0; col < count; col++)
{//col来定列数
sum = 0;
for (int row = 0; row < count; row++)
{//遍历这一列的行
if (chip[row][col] == 1)
{//记录测试结果中的1的个数
sum++;
}
}
if (sum > count / 2)
{//若1的个数超过了半数,那么就是好芯片,直接打印出来,
System.out.print(col + 1 + " ");
}
}
}
}