蓝桥杯 基础练习 芯片测试

试题 基础练习 芯片测试
题目链接

资源限制
时间限制：1.0s 内存限制：512.0MB

---

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
　　
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
　　
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

思路：
这个題其实关键的解题就一个，只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数，就可以判断这个是一个好芯片。为什么呢？因为题目中说了，其中坏的芯片的判断是随即的要不是1要不是0，所以对一个好的芯片（被检测）的判断而言，用坏的去判断（检测方）这个好的，显示1和显示0的概率都是50%，而如果还有一个好的芯片（检测方）也去判断这个好的芯片（被检测），这个结果一定是1，所以这个显示1的总数一定会大于显示0的个数。所以可以直接使用行代表对应的芯片进行对列的数值进行比较就行，如果为1则进行sum+1，只要sum > n / 2那么就是好的芯片。

代码如下所示：

import java.util.Scanner;

/**
 * @author Liaozicai
 */
public class Main
{
    public static void main(String[] args)
    {
        Scanner sc = new Scanner(System.in);
        //输入芯片的个数
        int count = sc.nextInt();
        // 芯片测试的结果
        int[][] chip = new int[count][count];
        // 或者这样简单的输入 ；所有芯片的测试结果，初始化矩阵
        for (int i = 0; i < count; i++)
        {
            for (int j = 0; j < count; j++)
            {
                chip[i][j] = sc.nextInt();
            }
        }
        //判断是否是好芯片，就看测试结果中的1是否超过半数；因为好芯片总多于坏芯片，
        //其余所有的芯片测试一个芯片，若是被测试的是好芯片，这一列的1肯定超过半数，
        //我们就用sum来记录测试结果中的1的个数
        int sum = 0;
        //用其余所有的芯片来测试一个芯片，我们要去看这个芯片的测试结果，
        //就是要去遍历测试矩阵的列，一列就是一个芯片的测试结果
        //通过列去遍历 这样就是其他的芯片对一个芯片的判断
        for (int col = 0; col < count; col++)
        {//col来定列数
            sum = 0;
            for (int row = 0; row < count; row++)
            {//遍历这一列的行
                if (chip[row][col] == 1)
                {//记录测试结果中的1的个数
                    sum++;
                }
            }
            if (sum > count / 2)
            {//若1的个数超过了半数，那么就是好芯片，直接打印出来，
                System.out.print(col + 1 + " ");
            }
        }
    }
}