芯片测试-LDO测试

💢LDO的简介💢

LDO:low dropout regulator,把一个较高电压输入,转换为一个略低的稳定输出电压。

💢压降💢

  • 🔥 压降电压 VDO 是指为实现正常稳压,输入电压 VIN 必须高出所需输出电压 VOUT(nom) 的font color=red>最小压差,VIN≥VOUT(nom)+VDO,正常使用模式下的压降都大于此值。
  • 🔥 如果 VIN 低于此值,线性稳压器将以压降状态工作,不再能调节到所需的输出电压。在这种情况下,输出电VOUT(dropout)
    将等于 VIN 减去压降电压的值,VOUT(dropout)=VIN−VDO。

👉👉👉
以调节后电压为 3.3V 的 TPS799 等 LDO 为例:当输出 200mA 电流时,TPS799 的最大压降电压指定为 175mV。
只要输入电压为 3.475V 或更高,就不会影响调节过程。
输入电压降至 3.375V 将导致 LDO 以压降状态工作并停止调节, TPS799 没有满足稳压所需的余量电压。输出电压将开始跟随输入电压变化。

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💢决定压降的主要因素💢

  • 🥝 压降主要由 LDO 架构决定。

💢LDO的分类及原理💢

LDO内部基本是由4大部件构成,分别是font color=red>分压取样电路、基准电压、误差放大电路和调整电路

  • 🍉 分压取样电路
    – 通过电阻R1和R2对输出电压进行采样,送至误差放大器。
  • 🍉 误差放大电路
    – 将采集的电压输入到误差放大器正向输入端,与反向输入端的基准电压进行比较,再将比较结果放大输出。
  • 🍉 基准电压
    – 通过bandgap(带隙电压基准)产生,温度变化对基准电压的影响要小。
  • 🍉 调整电路
    – 误差放大电路的输出送到晶体管的控制极(也就是MOS管的栅极或者BJT的基极),控制调整电路。

💢PMOS LDO💢

💢PMOS LDO工作过程💢

  • 🍐 根据PMOS的特性,在正常工作中,PMOS的VGS是负值。

  • 🍐 误差放大器的输出为(0, VIN)。

  • 🍐 在某一状态下,如果工作于可变电阻区时,VDS非常小,即VOUT相对于VIN的压降非常小。

  • 🍐 假定某一时刻,VIN不变,VOUT由于负载变化或其它原因电压下降,分压取样电路采集到的电压下降,输入至误差放大电路P端。

  • 🍐 误差放大电路的输入VP下降,输出电压下降。

  • 🍐 对于PMOS,G级电压下降,VGS绝对值增大,则PMOS的IDS增大,RDS减小,VDS减小,VOUT增大,形成反馈,Vout保持在恒定值。

  • 🍐 以上过程在PMOS的特性曲线上即从A点移动到B点。
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  • 🍐 随着 VGS 负向增大,能达到的 RDS 值越低。通过提升输入电压,可以使 VGS 值负向增大。因此,PMOS 架构在较高
    的输入电压下具有较低的VDO
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💢PMOS LDO中PMOS的工作状态💢

  • 🍐 PMOS一般工作在恒流区,RDS是一个较大且动态变化的负载。
  • 🍐 在VIN和VOUT压差很小时,VDS很小,PMOS会进入线性电阻区。

💢NMOS LDO💢

💢NMOS LDO工作过程💢

  • 🍋 根据NMOS的特性,在正常工作中,PMOS的VGS是正值,且>Vth
  • 🍋 假定某一时刻,VIN不变,VOUT由于负载变化或其它原因电压下降,分压取样电路采集到的电压下降,输入至误差放大电路N端。
  • 🍋 误差放大电路的输入VN减小,输出电压增大。
  • 🍋 对于NMOS,G级电压增大,S极电压减小,VGS增大,则NMOS的IDS增大,RDS减小,VDS减小,VOUT增大,形成反馈,Vout保持在恒定值。
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💢NMOS LDO 特殊之处💢

NMOS在LDO电路中,VGS >0,故VG > VS(VOUT),假设误差放大器的电源为VIN,则其输出为(0, VIN),那么LDO的输出最大为VIN-VGS(th),而VGS(th)一般都比较大,故NMOS LDO中,以VIN作为误差放大器电源的电路并不能实现低压差。

  • 🍉 为了实现低压差,一般采用偏置电路或者电荷泵方式,提高误差放大器的电源,从而实现误差放大器的输出> VIN
  • 🍉 此时,VGS保证在NMOS的正常工作范围内,VOUT可以接近于VIN,实现了低压差。

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💢PMOS和NMOS LDO的比较💢

💢电路接法上的区别💢

  • 🍓 PMOS LDO中,反馈点接在误差放大器的P端, NMOS LDO中,反馈点接在误差放大器的N端。
  • 🍓 PMOS LDO中,VIN接在S极,NMOS LDO中,VIN接在D极。
  • 🍓 NMOS中往往需要有升压电路作为误差放大器的电源,从而提升G极电压,保证低压差。
  • 🍓 可见NMOS的电路要更复杂。

💢导通电阻的区别💢

  • 🍓 PMOS的导通电阻相对较大,因为PMOS中的载流子迁移率较低,而NMOS相反。
  • 🍓 以上是因为电子的迁移率比空穴的迁移率要高。
  • 🍓 可见NMOS具有更低的导通电阻,在大电流输出的场景下有更高的效率和更低的压降。

💢输出稳定性和噪声特性的区别💢

  • 🍓 PMOS LDO具有较高的输出稳定性,因为PMOS的G极电流非常小,几乎对误差放大器的负载没有影响,此外PMOS LDO的噪声相对较好,更适用于对噪声敏感的电路。

💢热性能的区别💢

  • 🍓 PMOS中由于其材料,以及空穴的迁移率低,导通电阻高,使得其散热性能差与NMOS。

💢应用选择上的区别💢

  • 🍓 选择NMOS管还是PMOS管作为LDO的功率管,需要根据具体的应用需求、成本预算以及性能要求来决定。
  • 🍓 对于高效率和大电流输出的应用,NMOS LDO可能是更好的选择;而对于小功率应用,要求输出稳定性和低噪声的场合,PMOS LDO可能更为合适。
  • 🍓 PMOS的价格一般会高一些,这也是选择上需要考虑的。

💢LDO的参数💢

💢Dropout Voltage💢

  • 🍈 Dropout Voltage越小越好。
  • 🍈 Vdrop是指为实现正常稳压,输入电压 VIN必须高出所需输出电压 VOUT 的最小压差。
  • 🍈 Vdrop压差不是一个静态的值,和其架构和工艺决定,还和输出电流、温度等因素有关。

💢VIN输入电压💢

  • 🍈 LDO正常工作的输入电压范围,其范围在LDO正常工作的最低输入电压和最大能承受的电压之间。

💢VOUT输出电压💢

  • 🍈 对于固定输出电压型的LDO,一般把反馈环路(分压取样电阻)内置,常见的输出电压值有 1.2V、1.5V、1.8V、2.5V、3.3V 等。
  • 🍈 对于输出电压可调型的LDO,一般通过外部反馈电阻,将输出电压调整到期望值。

💢IOUT输出电流 💢

  • 🍈 LDO 正常工作是的最大输出电流。

💢Quiescent Current静态电流💢

  • 🍈 当外部负载电流为零时,LDO内部电流供电消耗的电流。
  • 🍈 静态电流(Quiescent Current) 越小越好。
  • 🍈 测试时使负载消耗电流为0,测试VIN上消耗的电流。

💢地电流Ground Current💢

  • 🍈 地电流指的是输入电流和输出电流之差,指的是LDO在工作时自身本身消耗的电流,所以在datasheet中给出的是地电流和输出电流之间的关系曲线。
  • 🍈 一般来说,接地电流会随着负载电流变化而变化。
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💢Shutdown Current关断电流💢

  • 🍈 关断电流是指输出被禁用时(受LDO控制,区别于负载断开的情况)LDO 消耗的输入电流。
  • 🍈 输出被禁用时,部分内部电路不再消耗功率,所以关断电流一定小于静态电流。其在低功耗应用中是非常重要的参数。
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💢电流限制💢

  • 🍈 一般LDO中都过流关断功能,输出电流到达设定值时就会关断输出。
  • 🍈 但设定值也会随温度、输出电压等因素有变化。
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💢Line Regulation线性调整率💢

  • 🍈 LDO输入变化对输出的影响,即在负载一定的情况下,输出电压变化量和输入电压变化量之比。
  • 🍈 线性调整率越小越好。
  • 🍈 一般在输出电流为标称最大值时测试。
  • 🍈输入电压的变化速率也对输入瞬态响应有较大的影响。当输入电压缓慢变化,输出电压基本不变。但是输入电压快速变化时,输出电压就会发生变化。

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💢Load Regulation负载调整率💢

  • 🍈 负载调整率是指在输入电压一定的情况下,输出电压随负载电流变化而产生的变化量。
  • 🍈 负载调整率越小越好。
  • 🍈 当负载电流突然变化时,引起的输出变化越小,LDO负载瞬态性能就越好。在负载电流缓慢变化时,负载调整率很小。当负载电流快速变化时,输出电压就会发生变化。
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💢Load Transient Response 负载瞬态响应💢

  • 🍈 是指负载电流阶跃变化时的输出电压的变化。
  • 🍈 它与输出电容值、电容等效电阻(ESR)、LDO环路增益带宽以及负载电流变化的大小和速率有关。
  • 🍈 如果负载变化速率非常缓慢,LDO控制环路会跟踪到该变化做出补偿响应。如果负载瞬态响应很快环路来不及补偿,可能会出现异常行为。
  • 🍈 测试时,需要使用示波器观察瞬间变化,负载电流的瞬间变化可以使用外部控制电路进行瞬间切换。
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💢Line Transient Response输入电压瞬态响应💢

  • 🍐 输入电压瞬态响应是指输入电压阶跃变化时输出电压的变化。
  • 🍐 它与LDO控制环路的增益带宽以及输入电压变化的大小和速率有关。
  • 🍐 输入电压的变化速率也对输入瞬态响应有较大的影响。 当输入电压缓慢变化(在 LDO 的带宽内只出现一个凹陷)时,可隐藏异常行为。
  • 🍈 测试时,需要使用示波器观察瞬间变化,电压的瞬间切换可以通过外部电路实现。
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💢PSRR Power Supply Rejection Ratio电源抑制比

  • 🍐 PSRR表示LDO抑制由输入电压波动造成的输出电压波动的能力,PSRR与频率有关,一般而言PSRR越大越好。
  • 🍐 测试需要在输入端加一个高精度波形发生器AWG,模拟各个频率的高频干扰,一个Line Injector将这个高频干扰信号加载到直流之上,用高分辨率示波器分别在输出和输入端,测出高频干扰信号的幅度,也可以串联电容将干扰加入直流。
  • 🍐 注意输入输出所接电容对结果的影响。
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💢Efficiency效率

  • 🍐 一般情况下,IGND忽略。
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LDO的选择

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