LDO芯片性能测试步骤

styyds

已于 2024-07-30 11:11:56 修改

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文章标签：单元测试

于 2024-07-30 11:09:14 首次发布

本文链接：https://blog.csdn.net/styyds/article/details/140791252

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1.输出精度

使用仪器：电压表

（1）空载测试

（2）满载测试

2.纹波大小

仪器：示波器+接地环

标准测试方法：①示波器带宽：20MHZ；②地线换成接地环

原因：地线太长，引入噪声，测量值会偏大

（1）空载测试
（2）满载测试

3.动态响应

仪器：动态负载机+示波器+接地环

改变负载-->改变电流，观察电压波动

补充：

芯片温度计算公式：芯片温度= $R_{\Theta JA}\times \left ( V_{in} -V_{out}\right )\times I_{out}+T_{room temperature}$

参考：2毛钱的线性稳压器(LDO)你也敢用？_哔哩哔哩_bilibili

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