Innovus学习笔记

介绍

数字后端概述

重要的部分：
1.Block部分与Chip部分的实现
2.dbGet命令——做pr非常实用的数据库命令

数字后端——简称pr，就是RTL到GDSII的过程

数据准备：
1.确定好使用的文件库

2.布局规划
1.确定好macro？，IO，memory，ip，电源该如何摆放
（规划得好就可以节省后续工作的时间）

布局
1.摆放standcell？
（摆放好与门，寄存器，与非门等等门电路）

时钟树综合
1.将所有单元时钟上的网络生长起来，做一个平衡的时钟树

布线
1.将所有standcell上的pin连接起来

Innovus软件使用

数据库准备

Netlist:

设计：在高级硬件描述语言（如Verilog）中编写设计描述，包括逻辑门、信号路径等。

综合：使用综合工具将高级描述转换为底层的逻辑网表（Logic Netlist），就是verilog代码被映射成门级电路。这个过程被称为综合。这个网表包含了逻辑门、连线以及它们之间的关系。

布局：在综合之后，物理设计工程师会将逻辑网表映射到芯片或电路板上的物理布局，创建物理网表（Physical Netlist）。这个物理网表描述了电路中各个元素的位置和连接。

布线：布局完成后，布线工程师将设计的元件之间连接起来，以确保电路的正确功能。

网表：RTL代码经过综合工具形成的

LEF:
LEF文件（Library Exchange Format）是一种常见的电子设计自动化（EDA）文件格式，用于描述标准单元库的物理信息。这些标准单元库通常包括各种逻辑门、存储单元、时钟栅格等，它们是用于数字集成电路设计的基本组成部分。

LEF文件通常包含以下信息：

单元的位置和大小：LEF文件描述了标准单元在芯片布局中的位置和尺寸。这对于实现物理设计（如布局和布线）非常重要，因为它们定义了每个标准单元的物理占用空间。

金属层的信息：LEF文件还包含关于标准单元上的金属层（用于电路连线）的信息，包括金属层的类型、规则和约束。

标准单元的电性特性：LEF文件可能包含有关每个标准单元的电性特性，如延迟、电容和电阻等信息。这些信息在时序分析和电气特性模拟中非常有用。

LEF
1.Metal：LEF包含每一层金属层上的定义，线宽的大小，pin的大小，memory的形状…
2.via:层与层之间通过垂直的通孔链接。via就是通孔层，它定义了层上的通孔的大小
3.macro cell：定义了memory cell的形状，及其pin大小等等
4.standard：定义门级电路单元的长宽高
5.放在libs文件夹下

technology LEF
（与物理相关的定义都在这里）
1.row：工艺制造最小单元的间距
2.track：走线的规则
3.manufacture grid:光刻的规则。要求所有单元都在制造格点上

1.UNITS
DATABASE MICRONS定义数据库中的单位为2000
MANUFACTURINGGRID定义格点间距为0.005

2.LAYER Metal1用作绕线层
spacing距离为0。23
PITCH每条轨道之间的距离为0.56
走线是纵横交错的，某条线为横向，下一条线为纵向…（大部分为横向走，纵向走会浪费资源）


Macro LEF定义器件的形状
standard cell标准单元
IO定义IO的pad？与板级电源的器件
Hard Macro：包括很多memory与IP

Physical：
定义macro的宽高
pim：定义vdd，vss的pin

site：定义最小格点的高度

DEF:
芯片布局信息： DEF文件包括了芯片的整体布局信息，包括芯片的大小、边界、尺寸和方向等。这些信息对于确保芯片的物理完整性和规模非常重要。

元件位置： DEF文件描述了设计中使用的各种元件（如逻辑门、存储单元、时钟栅格等）在芯片上的精确位置。这些位置信息对于布局和布线工程师来说至关重要，因为它们决定了元件的物理排列。

连线信息： DEF文件还包含了元件之间的物理连线信息，包括连线的路径、长度、宽度和金属层等详细信息。这些信息对于确保电路的时序和信号完整性非常关键。

电源和接地信息： DEF文件通常还包含了电路的电源和接地网络信息，以确保电路正常工作。

其他物理约束： DEF文件可以包含其他与物理设计相关的约束信息，如间距约束、最小尺寸要求等。

scan文件:
在Innovus中，"scan文件"通常是指扫描链（Scan Chain）相关的文件，用于支持测试和故障诊断的数字电路设计。扫描链是一种用于测试集成电路的技术，它允许在芯片上引入一组可控制和可观察的点，以便进行故障诊断、制造测试和硅测验等操作。

以下是一些与扫描链相关的文件和概念：

Scan Chains（扫描链）： 扫描链是由多个触发器（Flip-Flops）组成的链，这些触发器在正常操作模式下可以串联在一起，也可以在测试模式下切换为独立的模式。扫描链允许测试模式下的输入和输出数据通过链传递，以便对电路进行故障检测和测试。

Scan Chain Configuration File（扫描链配置文件）： 这是一个描述扫描链的配置和连接方式的文件，通常以特定的格式存储。它指定了哪些触发器被连接到扫描链中，以及它们的连接顺序。

Scan Test Pattern File（扫描测试模式文件）： 这个文件包含了在测试模式下应用于扫描链的测试模式（输入数据序列）。这些测试模式用于检测电路中的故障和问题。

Scan Insertion（扫描插入）： 扫描链通常需要在电路设计中进行插入，以便支持测试。扫描插入工具会根据设计自动生成扫描链，生成扫描链配置文件，并确保电路可以在测试模式下正常运行。

Scan Compression（扫描压缩）： 为了减小测试数据的体积，通常会使用扫描压缩技术，将大量测试模式压缩成更少的模式，以提高测试效率。相关的配置和控制信息也可能存储在扫描文件中。