DFT仿真经验总结

DFT仿真验证总结

一、前言

由于以前负责DFT的同事离职同时有DFT仿真的经验的同事负责了其它的工作，所以今年我就负责了公司DFT仿真验证相关的工作。第一次做相关的工作在该过程中也遇到很多的问题趁着放假就写篇文章来总结相关的经验也希望可以帮助第一次进行DFT仿真的同学。这篇文章主要包括DFT的介绍，DFT的前仿，DFT的后仿等三个部分。项目中DFT采用的是mentor的工具链，仿真采用的是synopsys的工具链。在DFT仿真中特别是后仿由于会回归多个版本同时仿真的时间的也比较长，所以后期仿真稳定后通过sh脚本来自动回归加快仿真效率，具体方式为不同的corrner定义不同变量来决定读入相应的SDF文件。

二、DFT介绍

DFT介绍部分暂时不做详细的阐述一方面内容较多另一方面水平有限还处于学习中。所以就简单介绍一下与仿真相关的一些内容。DFT在前端综合后的网表上插入一些逻辑电路来实现对电路的一个测试。其根据制造的缺陷类型有多种测试手段，这一次我们只进行了STUCK-AT测试、AT-SPEED测试、MBIST测试、以及BSCAN测试。BSCAN在仿真中没有出现什么问题，主要简单介绍前面三种测试MBIST测试。

2.1 STUCK-AT测试

SCAN测试检测STUCK-AT类型的错误。其通过外部输入向量作为测试激励通过比较输出响应来判断有没有在制造过程中产生错误导致芯片异常。测试向量以及仿真的激励文件均由tessent工具产生。仿真具有并行与串行有两种类型。并行的可以加快仿真的速度测试的向量也更多，其通过直接force寄存器的值来实现。串行的与ATE机台的行为更接近。

2.2 AT-SPEED测试

AT-SPEED检测制造问题引起延迟导致的缺陷。与STUCK-AT测试较为类似其也分为并行与串行两种模式。AT-SPEED测试根据运行的频率还可以进行分类，最高频率为芯片实际运行的最高频率。AT-SPEED的运行时钟频率比stuck-at的时钟要高很多。

2.3 MBIST测试

MBIST是一种检测memory在制造过程中有无缺陷的测试。其不需要产生测试向量进行测试，而是内部的插入的电路对memory进行一个读写操作来判断是否存在异常。DFT会在原始网表中插入相关测试逻辑电路与JTAG电路。外部激励通过JTAG接口来控制测试过程以及获取测试的结果。

三、DFT前仿

DFT前仿不带任何时序信息与系统仿真中的VCS前仿设置类似，出现问题的可能性较小。前仿无法检测出时序问题，但是也可能会出现mismatch的问题。如出现问题先检查模拟模块的输入输出接口是否正常输出信号。由于使用的是综合后的网表，模拟模块如PLL、PMU、POR等的仿真模型文件电源地接口会被优化掉，所以需要修改模型内电源相关的逻辑使得模块能正常工作。为了加快仿真速度工具产生的激励可能会在模块还没有正常工作时就进行了测试，所以还需要修改模型的延时来让其在测试前能正常工作。MBIST测试中注意rom的rcf需要放在makefile的同级目录中同时需要文件与DFT生成时使用的是一样的版本。根据仿真模型文件在进行DFT可能需要定义一些在DFT仿真时用的宏，具体需要定义的宏可以根据说明文档以及模型代码进行确定。

四、DFT后仿

DFT后仿是带有时序信息的仿真。同一个case会仿真多个corrner条件每个corrner包括setup与hold两种情况。DFT后仿的设置与系统的后仿环境设置也基本类似。但是后仿的notchecktimg寄存器不一样，特别是mbist中工具自动插入的部分以及OCC时钟产生与复位相关的模块。通过查看网表可以确认相关异步处理打拍的寄存器，需要将第一个寄存器设置为nochecktiming,由于未设置相关异步处理的寄存器往往会引起X态的匹配错误。出现结果与预期不匹配时可以dump前仿与后仿的波形来分析原因，后仿的仿真速度比较慢特别是如果还需要生成波形时，所以有问题时才dump波形一开始运行不dump波形来减少仿真时间。由于DFT仿真是在网表上进行仿真代码比较难理解所以通过与前仿波形对比来分析原因。后端提供的SDF文件通常时序都是满足了的，这时如果产生mismatch的问题特别是0,1的mismatch往往是SDC文件有问题，需要检查时钟与路径是否正确约束。其次记录相关错误的路径分析是不是不需要进行测试的路径，特别是经过了GPIO的路径，如果是的话需要重新生成测试文件与测试向量。