ADC的积分非线性和微分非线性

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    模数器件的精度指标是用积分非线性度（Interger NonLiner）即INL值来表示。也有的器件手册用 Linearity error 来表示。他表示了ADC器件在所有的数值点上对应的模拟值，和真实值之间误差最大的那一点的误差值。也就是，输出数值偏离线性最大的距离。单位是LSB（即最低位所表示的量）。
   比如12位ADC：TLC2543，INL值为1LSB。那么，如果基准4.095V，测某电压得的转换结果是1000，那么，真实电压值可能分布在0.999~1.001V之间。对于DAC也是类似的。比如DAC7512,INL值为8LSB，那么，如果基准4.095V，给定数字量1000，那么输出电压可能是0.992~1.008V之间。

   下面再说DNL值。理论上说，模数器件相邻量个数据之间，模拟量的差值都是一样的。就相一把疏密均匀的尺子。但实际并不如此。一把分辨率1毫米的尺子，相邻两刻度之间也不可能都是1毫米整。那么，ADC相邻两刻度之间最大的差异就叫差分非线性值（Differencial NonLiner）。DNL值如果大于1，那么这个ADC甚至不能保证是单调的，输入电压增大，在某个点数值反而会减小。这种现象在SAR（逐位比较）型ADC中很常见。
   举个例子，某12位ADC，INL=8LSB，DNL=3LSB（性能比较差），基准4.095V，测A电压读数1000，测B电压度数1200。那么，可判断B点电压比A点高197~203mV。而不是准确的200mV。对于DAC也是一样的，某DAC的DNL值3LSB。那么，如果数字量增加200，实际电压增加量可能在197~203mV之间。

 

总结：
（1）INL(Interger NonLinear,Linearity error)精度。理解为单值数据误差，对应该点模拟数据由于元器件及结构造成的
不能精确测量产生的误差。
（2）DNL(Differential NonLinear)差分非线性值。理解为刻度间的差值，即对每个模拟数据按点量化，由于量化产生的误
差。
例子：
(1)INL,精度
比如12位ADC：假设基准Vref=4.095V,那么1LSB=Vref/2^12=0.001V。
如果精度为1LSB，则它的单值测量误差0.001V*1=0.001V,比如测量结果1.000V，实际在1.000+/-0.001V范围。
如果精度为8LSB，则他的单值测量误差0.001V*8=0.008V,比如测量结果1.000V，实际在1.000+/-0.008V范围

(2)DNL，差分非线性值
比如12位ADC：假设基准Vref=4.095V,那么1LSB=Vref/2^12=0.001V。不考虑精度，即精度为0LSB，没有单值误差。
如果DNL=3LSB=0.001V*3=0.003V
假设A实际电压为1.001V,B实际电压为1.003V。理论上A点读数1.001V/1LSB=1001，B点读数1.003V/1LSB=1003，B-A=2,B>A，
但由于DNL=3LSB=0.003V,模拟数据间的量化误差有0.003V，那么B-A会在-1(2-3=-1)到+5(2+3=5)之间的某一个数。