芯片测试科普

最新推荐文章于 2023-10-19 17:34:18 发布
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分类专栏： 工具 IOT芯片 文章标签： 笔记
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专栏目录
清华大学芯片测试讲义
09-09
清华大学芯片测试讲义 清华大学芯片测试讲义 清华大学芯片测试讲义
清华大学芯片测试讲义(英文PPT)
01-25
清华大学芯片测试讲义(英文PPT) 清华大学芯片测试讲义(英文PPT) 了解知识 增加信息
模拟技术中的测控中高精度快速 A/D 采样转换模块设计
11-09
摘要：本文提出了一种应用于测试诊断系统的高精度A/D采样模块设计方案。根据测控系统的设计要求,分析了A/D转换芯片的选择依据,并对选定的芯片内部结构特点进行了论述。文章重点分析了A/D转换模块中的量化与过采样技术的实现,给出了具体的计算公式和实现方法。最后为了提高转换模块的可靠性,分析了该模块在设计中应注意的可靠性设计技巧。 　　1 前言 　　随着计算机技术的飞速发展和普及，数据采集系统也迅速地得到应用，在生产过程中， 应用这一系统可对生产现场的工艺参数进行采集、监视和记录，为提高产品质量，降低成 本提供信息和手段。在科学研究中，应用数据采集系统可获得大量的动态信息，是研究瞬 间物理过程的
fpga开发FPGA设计高级进阶(清华大学电子工程系).pdf
04-29
fpga开发FPGA设计高级进阶(清华大学电子工程系) • 掌握FPGA的基本设计原则 • 乒乓结构、流水线设计 • 异步时钟域的处理 • 状态机的设计 • 毛刺的消除 • 掌握FPGA设计的注意事项 • 从文档到设计完成 • 从设计实例加深设计思想
清华大学经典ASP.net讲义2
11-23
清华大学经典ASP.net讲义2 值得学习和收藏
芯片测试-清华大学讲义
07-07
清华大学芯片测试讲义，主要内容包括： 1.可测试性测试和设计的基础知识 2.组合测试生成 3.故障模拟 4.顺序测试生成 5.内存测试 6.可测性测量 7.可测试性设计 8.边界扫描 9.内置自检 10. IDDQ测试
芯片测试原理（基础篇）
MakerC++的博客
07-19 5411
芯片测试原理
清华大学芯片测试讲义.zip
05-16
清华大学芯片测试讲义，大家看下，挺好的。。。。。。。。。。。
芯片制造技术-芯片设计类技术资料合集.zip
07-14
芯片制造技术-芯片设计类技术资料合集： 18微米芯片后端设计的相关技术.pdf 5--芯片规划与设计(3学时).ppt ASIC芯片设计生产流程.ppt ECO技术在SoC芯片设计中的应用-王巍.pdf ic设计流程工具.docx LDO芯片设计报告及电路分析报告.pdf 一种基于MEMS技术的压力传感器芯片设计-王大军.pdf 关于芯片和芯片设计的科普——集成电路设计人员给家人的科普.ppt 半导体制程简介.ppt 半导体缺陷解析及中英文术语一览.pdf 华大半导体181页PPT基础知识培训——常用半导体器件讲解.ppt 同步升压芯片设计指南.ppt 图形芯片设计全过程.doc 基于DSP芯片设计的一种波形发生器.doc 射频芯片校准设计.pdf 常用存储器芯片设计指南.pdf 影响倒角加工效率的工艺研究-康洪亮.doc 数字IC芯片设计.ppt 晶圆及芯片测试.doc 模拟芯片设计的四个层次.doc 深入大规模芯片设计全过程.doc 用555芯片设计的施密特触发器电路1.doc 第二讲.集成电路芯片的发展历史设计与制造.ppt 系统芯片SOC设计.ppt 芯片研发过程介绍.pdf 芯片设计和生产流程.pdf 芯片设计实现介绍.pptx 芯片设计流程.pdf 芯片设计过程.doc 超大规模集成电路中低功耗设计与分析.pdf 超大规模集成电路设计.ppt 集成电路(IC)设计完整流程详解及各个阶段工具简介.docx 集成电路-ch1.ppt 集成电路EDA设计概述.ppt 集成电路技术简介.pptx 集成电路版图设计5.ppt 集成电路芯片设计.ppt 集成电路设计的现状与未来.ppt
NEO_Conjure_V0.1:Beta版本的召回模式可启用OSM芯片
05-01
NEO_Conjure_V0.1 NEO 1.1.4的转换模式 版本：0.1（测试版） 日期：2012年10月2日 作者：弗雷泽·富尔顿（Fraser Fulton）和德文·德·雷德科普（Devon G. Redekopp） 产品页面： : 该软件已根据知识共享署名-相同方式共享4.0许可。 作者的修改 _NEOv1-1-4_conjure.ino 中断 push.ino SleepMode.ino 此代码按创意共享方式分发（如4.0）。Attribution-ShareAlike 4.0 International（CC BY-SA 4.0）您可以自由：分享？ 以任何媒介或格式复制和重新分发材料。 出于任何目的（甚至用于商业目的）对材料进行重新混合，转换和构建。 只要您遵守许可条款，许可人就不能撤消这些自由。 根据以下条款：归因？ 您必须给予适当的信誉，提供许可证的链
【推荐】集成电路芯片设计流程及技术资料合集.zip
09-18
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三叶草双核心9038PRO解码器屏幕控制板STM32程序
最新发布
04-21
三叶草双9038PRO解码器屏幕控制板STM32程序 ...用ST-link读取不全，之后购买了J-link和新芯片，反复做测试确认卖家发的芯片是坏的。换新芯片一次刷成功开机。 上传了多个固件文件，如不成功请试别的文件。
射频芯片测试座
学习就是照镜子，当镜子里的人是你自己的时候，你就出师啦。
06-04 2646
我们都知道，射频组件和射频芯片是无线连接的核心，也是半导体行业的重要组成部分。随着5G和WIFI6的出现，射频技术也遇到了新的挑战和机遇。目前，射频组件和射频芯片的设计和生产能力仍然比较薄弱。随着国家战略调整政策的实施，越来越多的资源投入到射频组件和芯片的开发和生产中。在这个过程中，在中国，迫切需要满足RF芯片的生产测试。...
纳米软件干货分享|芯片测试技术知识科普
namisoft123的博客
10-19 92
芯片测试的主要目的是在投入应用之前发现和纠正芯片的潜在问题，防止不良品流入客户手中。通过测试，可以检查芯片的功能是否正常，性能是否达标，以及在各种环境条件下是否能保持正常工作。主要考察芯片在各种环境条件下是否能保持正常工作，例如，芯片是否会被静电损坏，在雷雨天、三伏天、风雪天是否能正常工作等。芯片测试的方法有很多种，包括板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT测试、系统级SLT测试、可靠性测试等。功能测试是测试芯片的参数、指标、功能等是否符合设计要求。芯片测试主要包括功能测试、性能测试和可靠性测试。
纳米软件科普|什么是运放芯片?运放芯片测试方法是什么?
namisoft123的博客
10-18 361
运放芯片是一种电路元件，它可以用于信号放大、滤波、积分、微分等电路中。在可穿戴设备中，运放芯片也被广泛应用于信号处理和放大等方面，而“可穿戴高速运放”则是指能够提供更高速度、更低功耗、更高精度的运放芯片，以满足可穿戴设备对于信号处理和放大等方面的需求。6. 使用多用表对芯片进行参数测试，包括输入阻抗、输出阻抗、增益、带宽等参数，并记录下来。2. 在进行参数测试时，要注意测量时的环境温度和湿度等因素，以保证测试结果的准确性。4. 在产生测试信号时，要注意信号的幅度和频率等参数，以确保测试结果符合设计要求。
技术科普丨[测试] 64MEG 感光芯片效果对比
zyfzhangyafei的专栏
06-08 1129
感光芯片是摄像头最重要的元器件之一，相当于传统相机中的胶卷，起到接收光线进而成像的作用，感光芯片的效果好坏直接关系到模组的效果。 本文提到的两款芯片，是目前手机摄像头最主流的两款6400万像素的芯片。两款芯片的尺寸规格比较类似，整个感光区域大约排布了9250*6940个像素点，单个像素点尺寸是0.8um，整体芯片尺寸是1/1.7’左右。 两款芯片在CRA，数据接口类型，供电电路，芯片厚度等参数方面都比较类似，同样具有当下比较流行的1x2 OCL PDAF（相位对焦）功能，以及4cell1（4合1）功
合肥市科普日试题和测试数据.zip
08-02
合肥市科普日试题和测试数据.zip是一个压缩文件，其中包含了合肥市科普日活动的试题和测试数据。该文件是为了方便参与科普日活动的人员进行试题答题和测试数据分析而准备的。 在这个压缩文件中，试题部分包括了各个...

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