【JTAG】1149.6协议详解

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一、简介

二、协议新增指令

2.1 EXTEST_PULSE

2.2 EXTEST_TRAIN

三、AC边界扫描结构

一、简介

        JTAG 1149.6协议是1149.1协议中Boundary-Scan结构的扩展,1149.1对交流耦合、差分或两者兼有的情况并没有得到充分的处理。该协议支持新的I/O测试结构。需要时变(AC)信号的高级I/O引脚允许测试它们之间的连接,这包括所有差分信号引脚或单端信号引脚,通过设计支持交流耦合。

二、协议新增指令

2.1 EXTEST_PULSE

        对I/O DC引脚使用EXTEST即可,但是对于AC引脚,协议新增加 EXTEST_PULSE指令以支持AC测试。该指令的效果是BSR打出一个pulse给到PAD。

        如下图所示pulse的宽度一般是Test-Idle的宽度从Update状态到下一个Select-DR状态。

2.2 EXTEST_TRAIN

        EXTEST_TRAIN指令相比于EXTEST_PULSE区别是pulse只打一拍,宽度为idle状态的宽度,但是train是在idle期间每个TCK都打拍。如下图所示,是一种可能的AC TEST结构,Train=1,AC_TEST signal会一直打拍。

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IEEE JTAG 1149.1 是一种广泛应用于集成电路测试和调试的标准接口协议JTAG全称为Joint Test Action Group,是一组工程师组成的国际组织,该组织制定了JTAG标准。 IEEE JTAG 1149.1 是JTAG标准的具体实现,它定义了一种在芯片上通过少量引脚进行测试和调试的方法。该标准使得集成电路设计师可以在生产过程中对芯片进行非侵入式测试,而无需直接接触芯片引脚。 IEEE JTAG 1149.1 标准定义了一个实际上是一个逻辑链的JTAG端口,它由多个连续的芯片引脚组成。每个芯片将其TAP控制器连接到该链上,TAP控制器实现了JTAG标准规定的测试和调试功能。 通过该JTAG链,可以对芯片进行多种测试操作,如扫描链测试、边界扫描测试和功能测试。其中,边界扫描测试是最重要的一种测试方法,通过扫描链测试,可以对芯片的边界节点进行控制和观测,从而检测功能和连线错误。 除了测试功能外,IEEE JTAG 1149.1 还可以用于调试芯片和进行一些特殊操作,比如芯片的编程和重置。通过JTAG接口,工程师可以通过特殊的JTAG命令对芯片进行访问和控制。 总之,IEEE JTAG 1149.1 是一种集成电路测试和调试的标准接口协议。通过该协议,工程师可以通过少量引脚对芯片进行非侵入式测试,并进行一些特殊操作和调试。该标准在集成电路设计和生产中发挥了重要作用。
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